测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210769607.0

申请日：

2022-06-30

公开(公告)号：

CN115114164B

公开(公告)日：

2025-01-17

发明(设计)人：

彭一轩

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400023 重庆市江北区建新东路260号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F8/41 G06F9/445 G06F16/16 G06F16/174 G06F16/176

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

张双凤

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-17	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

彭一轩 .

中国专利 :CN115114164A ,2022-09-27

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王丹 ;

柳宁一 .

中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16

[3]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

王荣荣 ;

余劲达 ;

龚振杰 .

中国专利 :CN113849416A ,2021-12-28

[4]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周泽智 ;

杨国科 ;

刘广浩 ;

张金城 ;

李淑珊 ;

庞海舰 .

中国专利 :CN119882679A ,2025-04-25

[5]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高腾远 ;

薛品龙 ;

王跃辉 ;

李洋 ;

赵印凯 ;

周毅 .

中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28

[6]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何俊 ;

马振克 ;

沈卫杰 .

中国专利 :CN118012687A ,2024-05-10

[7]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

雷之义 ;

谭延丹 ;

吕凯 ;

蔡之骏 .

中国专利 :CN120045451A ,2025-05-27

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周晶 ;

张斌 ;

梁力 ;

李晓萍 .

中国专利 :CN117908510B ,2025-11-07

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘黎明 .

中国专利 :CN114490620A ,2022-05-13

[10]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

杨锋 .

中国专利 :CN113553257A ,2021-10-26

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