一种卫星贮存测试系统、方法、设备及介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311419474.5
申请日
2023-10-30
公开(公告)号
CN119556305A
公开(公告)日
2025-03-04
发明(设计)人
孙国飞 王长越 陈曙辉 陈冠宇 郭松茂 张翔宇 陈峰 周远法 杨鸿鸣 于洋 王丽萍
申请人
中国人民解放军63601部队
申请人地址
735000 甘肃省酒泉市肃州区东风厂区
IPC主分类号
G01S19/08
IPC分类号
G01S19/28 G01S19/34
代理机构
北京轻创知识产权代理有限公司 11212
代理人
赖定珍
法律状态
公开
国省代码
河南省 焦作市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种遥感卫星载荷的测试系统、测试方法、设备及介质 [P]. 
高恩宇 ;
郇一恒 ;
刁占林 .
中国专利 :CN113794509A ,2021-12-14
[2]
一种设备测试方法、设备、设备测试系统及存储介质 [P]. 
龚飞 .
中国专利 :CN118337677A ,2024-07-12
[3]
一种基站测试系统、方法、设备及介质 [P]. 
吕方 .
中国专利 :CN119071828A ,2024-12-03
[4]
一种蓝牙设备测试方法、测试系统及存储介质 [P]. 
孟潇 .
中国专利 :CN120342519A ,2025-07-18
[5]
卫星磁试验测试方法、装置、设备、系统及介质 [P]. 
宗宝 ;
彭欣 ;
刘勇 .
中国专利 :CN114280378A ,2022-04-05
[6]
一种显示设备测试系统、方法、设备及存储介质 [P]. 
向衡礼 ;
陈声武 ;
李冠佑 ;
胡广 ;
陈浩 .
中国专利 :CN119986184A ,2025-05-13
[7]
一种测试系统、方法、设备及介质 [P]. 
王津堂 .
中国专利 :CN118964161A ,2024-11-15
[8]
一种测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P]. 
周卫 .
中国专利 :CN117331769A ,2024-01-02
[9]
一种插损测试系统、插损测试方法、设备及介质 [P]. 
赫晓明 ;
黄松义 .
中国专利 :CN120652264A ,2025-09-16
[10]
一种芯片温度测试系统、测试方法、电子设备及介质 [P]. 
郭红伟 ;
崔秀秀 ;
敖文扬 ;
莫右 .
中国专利 :CN119827003A ,2025-04-15