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元器件质量问题监测方法及相关设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411407372.6
申请日
:
2024-10-10
公开(公告)号
:
CN119558697A
公开(公告)日
:
2025-03-04
发明(设计)人
:
吴传文
郭亚静
汪洋
鲍小丽
张晨
张博
许雯嘉
申请人
:
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址
:
100085 北京市海淀区永定路50号
IPC主分类号
:
G06Q10/0639
IPC分类号
:
G06Q10/0635
G06N7/01
代理机构
:
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人
:
王刚
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-04
公开
公开
2025-03-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06Q 10/0639申请日:20241010
共 50 条
[1]
元器件的批次质量评估方法及相关设备
[P].
鲍小丽
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
鲍小丽
;
吴传文
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0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
吴传文
;
汪洋
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
汪洋
;
刘慧鑫
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
刘慧鑫
.
中国专利
:CN121146581A
,2025-12-16
[2]
元器件失效风险监测预警方法及相关设备
[P].
王坦
论文数:
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
王坦
;
吴传文
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
吴传文
;
鲍小丽
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
鲍小丽
;
郭亚静
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
郭亚静
;
苗志坤
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
苗志坤
;
刘慧鑫
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
刘慧鑫
;
张晨
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
张晨
;
许雯嘉
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
许雯嘉
.
中国专利
:CN119378353A
,2025-01-28
[3]
元器件互连结构的质量确定方法及相关设备
[P].
曹阳
论文数:
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
曹阳
;
梅亮
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
梅亮
;
武荣荣
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
武荣荣
;
李硕
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
李硕
;
高会壮
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
高会壮
.
中国专利
:CN119720664A
,2025-03-28
[4]
元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质
[P].
汪洋
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
汪洋
;
吴传文
论文数:
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
吴传文
;
鲍小丽
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0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
鲍小丽
;
许雯嘉
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
许雯嘉
;
张晨
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0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
张晨
.
中国专利
:CN117670110A
,2024-03-08
[5]
机顶盒元器件质量反馈方法及系统
[P].
熊红令
论文数:
0
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熊红令
.
中国专利
:CN107580215A
,2018-01-12
[6]
液态奶产品质量问题投诉预测方法、设备、介质及产品
[P].
褚凯阳
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
褚凯阳
;
刘家俊
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
刘家俊
;
段桂江
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
段桂江
;
吴铁映
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
吴铁映
;
丛强
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
丛强
.
中国专利
:CN119151590A
,2024-12-17
[7]
元器件堆叠设备及方法
[P].
李兴民
论文数:
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机构:
深圳振华富电子有限公司
深圳振华富电子有限公司
李兴民
;
肖倩
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机构:
深圳振华富电子有限公司
深圳振华富电子有限公司
肖倩
;
刘季超
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机构:
深圳振华富电子有限公司
深圳振华富电子有限公司
刘季超
;
徐鹏飞
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机构:
深圳振华富电子有限公司
深圳振华富电子有限公司
徐鹏飞
;
王智会
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机构:
深圳振华富电子有限公司
深圳振华富电子有限公司
王智会
.
中国专利
:CN119303810A
,2025-01-14
[8]
一种复杂产品质量问题追溯方法及系统
[P].
肖莹莹
论文数:
0
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机构:
北京仿真中心
北京仿真中心
肖莹莹
;
施国强
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机构:
北京仿真中心
北京仿真中心
施国强
;
赵志龙
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机构:
北京仿真中心
北京仿真中心
赵志龙
;
林廷宇
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机构:
北京仿真中心
北京仿真中心
林廷宇
;
郭丽琴
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机构:
北京仿真中心
北京仿真中心
郭丽琴
.
中国专利
:CN112395424B
,2024-09-13
[9]
一种复杂产品质量问题追溯方法及系统
[P].
肖莹莹
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肖莹莹
;
施国强
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施国强
;
赵志龙
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赵志龙
;
林廷宇
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林廷宇
;
郭丽琴
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0
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0
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0
郭丽琴
.
中国专利
:CN112395424A
,2021-02-23
[10]
一种电子元器件质量检测方法
[P].
周克
论文数:
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
周克
;
杨兴国
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
杨兴国
;
苏婧
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
苏婧
;
徐晓东
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
徐晓东
;
王体梅
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
王体梅
.
中国专利
:CN119688004A
,2025-03-25
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