元器件互连结构的质量确定方法及相关设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411801254.3

申请日：

2024-12-09

公开(公告)号：

CN119720664A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

曹阳梅亮武荣荣李硕高会壮

申请人：

航天科工防御技术研究试验中心

申请人地址：

100085 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G06F30/23

IPC分类号：

G06F30/27 G06N3/0464 G06N3/08 G06N5/01 G06F119/02 G06F119/14

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

王聪聪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/23申请日:20241209
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

元器件的批次质量评估方法及相关设备 [P].

鲍小丽 ;

吴传文 ;

汪洋 ;

刘慧鑫 .

中国专利 :CN121146581A ,2025-12-16

[2]

元器件质量问题监测方法及相关设备 [P].

吴传文 ;

郭亚静 ;

汪洋 ;

鲍小丽 ;

张晨 ;

张博 ;

许雯嘉 .

中国专利 :CN119558697A ,2025-03-04

[3]

元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

汪洋 ;

吴传文 ;

鲍小丽 ;

许雯嘉 ;

张晨 .

中国专利 :CN117670110A ,2024-03-08

[4]

元器件封装方法及元器件封装结构 [P].

赵静 ;

仇元红 ;

穆新 .

中国专利 :CN114464540A ,2022-05-10

[5]

元器件封装方法及元器件封装结构 [P].

赵静 ;

仇元红 ;

穆新 .

中国专利 :CN114464540B ,2025-01-28

[6]

基于用户偏好的元器件的推荐方法及相关设备 [P].

陈光 ;

吴传文 ;

鲍小丽 ;

汪洋 ;

耿玲玲 ;

刘慧鑫 ;

郭亚静 ;

苗志坤 .

中国专利 :CN118332186A ,2024-07-12

[7]

元器件的剩余寿命确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

闫涛 ;

徐振炀 ;

张志林 ;

吕昊远 ;

唐丽丽 .

中国专利 :CN119598824B ,2025-08-12

[8]

元器件参数确定装置及方法 [P].

刘洋 ;

程传阳 ;

沈航 ;

庞观士 ;

匡雯慧 ;

陈志列 .

中国专利 :CN120468623A ,2025-08-12

[9]

元器件的剩余寿命确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

闫涛 ;

徐振炀 ;

张志林 ;

吕昊远 ;

唐丽丽 .

中国专利 :CN119598824A ,2025-03-11

[10]

线圈元器件的制造方法及线圈元器件的制造设备 [P].

田中辉亮 .

中国专利 :CN108428540B ,2018-08-21

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