薄膜电阻测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420499582.1

申请日：

2024-03-14

公开(公告)号：

CN222561692U

公开(公告)日：

2025-03-04

发明(设计)人：

苏显月拉海忠闫晓晖

申请人：

上海积塔半导体有限公司

申请人地址：

201306 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区云水路600号

IPC主分类号：

G01R27/02

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/073

代理机构：

上海隆天律师事务所 31282

代理人：

钟宗

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-04	授权	授权

共 50 条

[1]

薄膜电阻测试结构 [P].

张建文 .

中国专利 :CN207601182U ,2018-07-10

[2]

电阻测试设备 [P].

梅博文 ;

柳书桥 ;

许生华 ;

杨康 ;

苏文毅 .

中国专利 :CN221804139U ,2024-10-01

[3]

真空薄膜电阻测试仪 [P].

李俊生 .

中国专利 :CN202471834U ,2012-10-03

[4]

软板电阻测试设备 [P].

陈玲 ;

张春成 ;

唐铸 ;

于开峰 ;

卫少民 ;

高峰 ;

何铁 ;

李建平 .

中国专利 :CN208506200U ,2019-02-15

[5]

一种薄膜电阻测试夹具 [P].

王世平 .

中国专利 :CN201673178U ,2010-12-15

[6]

一种四探针薄膜电阻测试装置 [P].

陈清明 ;

张亚林 ;

张辉 .

中国专利 :CN206876768U ,2018-01-12

[7]

压电薄膜测试设备 [P].

黄锦钊 ;

章哲宇 ;

牛洋洋 .

中国专利 :CN210741746U ,2020-06-12

[8]

片式薄膜电阻温度特性测试装置 [P].

张青 ;

李吉云 ;

韩玉成 .

中国专利 :CN203164325U ,2013-08-28

[9]

一种薄膜电阻测试仪 [P].

王叔明 ;

栗金鹏 ;

张鹏 ;

李明文 ;

王道敏 .

中国专利 :CN200982989Y ,2007-11-28

[10]

一种薄膜电阻测试装置 [P].

董学忠 ;

方伟峰 ;

文娟·刘·麦蒂斯 .

中国专利 :CN209542813U ,2019-10-25

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