微纳缺陷智能检测方法、装置、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411627979.5

申请日：

2024-11-14

公开(公告)号：

CN119515842A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

彭星李丁康石峰翟德德乔硕

申请人：

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G06V10/774 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/045 G06V10/44 G06T7/73

代理机构：

长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225

代理人：

彭小兰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241114
2025-02-25	公开	公开

共 50 条

[1]

微纳结构表面缺陷智能检测方法及其系统 [P].

汪少成 ;

沈小专 ;

熊明福 ;

徐嘉烨 .

中国专利 :CN119991622A ,2025-05-13

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120782736A ,2025-10-14

[3]

PCB板缺陷类别智能检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

贾德伟 ;

蔡小涛 ;

彭铁如 ;

田冲 ;

全利 ;

袁俊阳 ;

贾振东 ;

胡永强 ;

蔡敏 ;

袁从燕 ;

李露露 .

中国专利 :CN118229669B ,2024-11-05

[4]

PCB板缺陷类别智能检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

贾德伟 ;

蔡小涛 ;

彭铁如 ;

田冲 ;

全利 ;

袁俊阳 ;

贾振东 ;

胡永强 ;

蔡敏 ;

袁从燕 ;

李露露 .

中国专利 :CN118229669A ,2024-06-21

[5]

缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P].

赖锦祥 .

中国专利 :CN117934478A ,2024-04-26

[6]

缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P].

赖锦祥 .

中国专利 :CN117934478B ,2024-06-25

[7]

缺陷检测模型训练及缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P].

冯建俊 ;

胡浩 ;

范坤 ;

陈浩铭 ;

谭杰 .

中国专利 :CN117635599A ,2024-03-01

[8]

缺陷检测模型训练和缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张发恩 ;

孙天齐 ;

袁智超 ;

陆强 .

中国专利 :CN111784673A ,2020-10-16

[9]

图像缺陷检测方法、装置、微距成像设备及存储介质 [P].

蔡利冰 ;

侍海东 .

中国专利 :CN119850606B ,2025-06-27

[10]

图像缺陷检测方法、装置、微距成像设备及存储介质 [P].

蔡利冰 ;

侍海东 .

中国专利 :CN119850606A ,2025-04-18

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