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图像缺陷检测方法、装置、微距成像设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510322941.5
申请日：
2025-03-19
公开(公告)号：
CN119850606A
公开(公告)日：
2025-04-18
发明(设计)人：
蔡利冰 侍海东
申请人：
苏州苏映视图像软件科技有限公司
申请人地址：
215101 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州工业园区星明街218号R幢
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/194 G06V10/774 G06V10/82 G06V10/10
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
孔凡红
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-06 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250319
2025-06-27 授权 授权
2025-04-18 公开 公开
共 50 条
[1]
图像缺陷检测方法、装置、微距成像设备及存储介质 [P]. 
蔡利冰 ;
侍海东 .
中国专利 :CN119850606B ,2025-06-27
[2]
工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
王少成 .
中国专利 :CN117474904A ,2024-01-30
[3]
工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
王少成 .
中国专利 :CN117474904B ,2024-03-12
[4]
缺陷成像系统、缺陷检测方法、设备及存储介质 [P]. 
高俊愿 ;
张武杰 .
中国专利 :CN121049263A ,2025-12-02
[5]
图像缺陷检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 [P]. 
谭丽珠 ;
陆华章 ;
王晓琳 ;
吴春兰 ;
熊伟 ;
周叶笛 .
中国专利 :CN114723677B ,2025-11-18
[6]
图像缺陷检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 [P]. 
谭丽珠 ;
陆华章 ;
王晓琳 ;
吴春兰 ;
熊伟 ;
周叶笛 .
中国专利 :CN114723677A ,2022-07-08
[7]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120782736A ,2025-10-14
[8]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
莫承见 ;
曾莹 ;
高映军 ;
张伟贤 .
中国专利 :CN120236113A ,2025-07-01
[9]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王昌安 .
中国专利 :CN117197134B ,2024-11-01
[10]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
辛悦悦 ;
郭峰林 ;
张正林 ;
杜艾卿 ;
孙颖 ;
彭朱静 ;
窦伟 ;
綦凯达 .
中国专利 :CN117252824B ,2025-10-31
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