用于半导体器件的功率金属化结构

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910693203.6
申请日
2019-07-30
公开(公告)号
CN110783308B
公开(公告)日
2025-02-25
发明(设计)人
R.K.约希 R.佩尔策 A.比尔克 M.内尔希贝尔 S.施密德鲍尔
申请人
英飞凌科技奥地利有限公司
申请人地址
奥地利菲拉赫西门子大街2号
IPC主分类号
H01L23/528
IPC分类号
H01L21/768
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
刘书航;申屠伟进
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于半导体器件的功率金属化结构 [P]. 
R.K.约希 ;
R.佩尔策 ;
A.比尔克 ;
M.内尔希贝尔 ;
S.施密德鲍尔 .
中国专利 :CN110783308A ,2020-02-11
[2]
包括多层金属化的功率半导体器件 [P]. 
托马斯·埃德加·哈林顿三世 ;
布赖斯·麦克弗森 ;
斯科特·艾伦 .
美国专利 :CN120548611A ,2025-08-26
[3]
半导体器件的金属化 [P]. 
保罗·赫伊斯坎普 ;
霍德弗里德·亨克里斯·约瑟夫斯·诺特曼斯 .
中国专利 :CN105514084B ,2016-04-20
[4]
半导体器件的金属化 [P]. 
德克·托本 ;
布鲁诺·施普勒 ;
马丁·古奇 ;
彼得·韦甘德 .
中国专利 :CN1154186C ,1998-10-07
[5]
包括铍金属化的功率半导体器件 [P]. 
阿夫辛·达德万德 ;
德瓦拉詹·巴拉拉曼 .
美国专利 :CN121153112A ,2025-12-16
[6]
用于制造具有金属化层的半导体器件的方法 [P]. 
P.加尼策 ;
R.策尔萨歇尔 .
中国专利 :CN102339795A ,2012-02-01
[7]
用于制造具有金属化层的半导体器件的方法 [P]. 
P.加尼策 ;
R.策尔萨歇尔 .
中国专利 :CN105006457A ,2015-10-28
[8]
用于半导体器件的金属化层及其形成方法 [P]. 
B·戈勒 ;
K·马托伊 .
中国专利 :CN107808825A ,2018-03-16
[9]
半导体器件的金属化方法 [P]. 
潘嘉 ;
杨继业 ;
邢军军 ;
黄璇 .
中国专利 :CN111599679A ,2020-08-28
[10]
功率半导体器件和用于制造功率半导体器件的方法 [P]. 
洪性兆 ;
姜守昶 ;
杨河龙 ;
徐永浩 .
中国专利 :CN110098124A ,2019-08-06