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用于半导体器件的功率金属化结构
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910693203.6
申请日
:
2019-07-30
公开(公告)号
:
CN110783308B
公开(公告)日
:
2025-02-25
发明(设计)人
:
R.K.约希
R.佩尔策
A.比尔克
M.内尔希贝尔
S.施密德鲍尔
申请人
:
英飞凌科技奥地利有限公司
申请人地址
:
奥地利菲拉赫西门子大街2号
IPC主分类号
:
H01L23/528
IPC分类号
:
H01L21/768
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
刘书航;申屠伟进
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-25
授权
授权
共 50 条
[1]
用于半导体器件的功率金属化结构
[P].
R.K.约希
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R.K.约希
;
R.佩尔策
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R.佩尔策
;
A.比尔克
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A.比尔克
;
M.内尔希贝尔
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M.内尔希贝尔
;
S.施密德鲍尔
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S.施密德鲍尔
.
中国专利
:CN110783308A
,2020-02-11
[2]
包括多层金属化的功率半导体器件
[P].
托马斯·埃德加·哈林顿三世
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机构:
沃孚半导体公司
沃孚半导体公司
托马斯·埃德加·哈林顿三世
;
布赖斯·麦克弗森
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机构:
沃孚半导体公司
沃孚半导体公司
布赖斯·麦克弗森
;
斯科特·艾伦
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机构:
沃孚半导体公司
沃孚半导体公司
斯科特·艾伦
.
美国专利
:CN120548611A
,2025-08-26
[3]
半导体器件的金属化
[P].
保罗·赫伊斯坎普
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保罗·赫伊斯坎普
;
霍德弗里德·亨克里斯·约瑟夫斯·诺特曼斯
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霍德弗里德·亨克里斯·约瑟夫斯·诺特曼斯
.
中国专利
:CN105514084B
,2016-04-20
[4]
半导体器件的金属化
[P].
德克·托本
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德克·托本
;
布鲁诺·施普勒
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布鲁诺·施普勒
;
马丁·古奇
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马丁·古奇
;
彼得·韦甘德
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彼得·韦甘德
.
中国专利
:CN1154186C
,1998-10-07
[5]
包括铍金属化的功率半导体器件
[P].
阿夫辛·达德万德
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机构:
沃孚半导体公司
沃孚半导体公司
阿夫辛·达德万德
;
德瓦拉詹·巴拉拉曼
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机构:
沃孚半导体公司
沃孚半导体公司
德瓦拉詹·巴拉拉曼
.
美国专利
:CN121153112A
,2025-12-16
[6]
用于制造具有金属化层的半导体器件的方法
[P].
P.加尼策
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P.加尼策
;
R.策尔萨歇尔
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R.策尔萨歇尔
.
中国专利
:CN102339795A
,2012-02-01
[7]
用于制造具有金属化层的半导体器件的方法
[P].
P.加尼策
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P.加尼策
;
R.策尔萨歇尔
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R.策尔萨歇尔
.
中国专利
:CN105006457A
,2015-10-28
[8]
用于半导体器件的金属化层及其形成方法
[P].
B·戈勒
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B·戈勒
;
K·马托伊
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K·马托伊
.
中国专利
:CN107808825A
,2018-03-16
[9]
半导体器件的金属化方法
[P].
潘嘉
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潘嘉
;
杨继业
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杨继业
;
邢军军
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邢军军
;
黄璇
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黄璇
.
中国专利
:CN111599679A
,2020-08-28
[10]
功率半导体器件和用于制造功率半导体器件的方法
[P].
洪性兆
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洪性兆
;
姜守昶
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姜守昶
;
杨河龙
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杨河龙
;
徐永浩
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徐永浩
.
中国专利
:CN110098124A
,2019-08-06
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