元器件测试的方法、装置、电子设备、存储介质及程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411535607.X

申请日：

2024-10-30

公开(公告)号：

CN119511016A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

于斌斌文乔

申请人：

瑞能微恩半导体（上海）有限公司

申请人地址：

201500 上海市金山区金山工业区九工路1688弄6号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G06F17/18

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

尹婧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	公开	公开
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241030

共 50 条

[1]

电子元器件搜索方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢国清 ;

林颖朝 .

中国专利 :CN114912002A ,2022-08-16

[2]

元器件的替换方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

张定农 ;

郑凯强 ;

张世杰 .

中国专利 :CN115835498B ,2025-08-01

[3]

元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马彩丰 .

中国专利 :CN115661115A ,2023-01-31

[4]

程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张琼 .

中国专利 :CN116737592B ,2024-10-15

[5]

器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李宗缘 ;

武杰 ;

刘阿灶 .

中国专利 :CN119125828B ,2025-03-07

[6]

器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李宗缘 ;

武杰 ;

刘阿灶 .

中国专利 :CN119125828A ,2024-12-13

[7]

电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马丁立 ;

吴友鹏 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN119245867B ,2025-09-16

[8]

电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马丁立 ;

吴友鹏 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN119245867A ,2025-01-03

[9]

元器件检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

刘琪 .

中国专利 :CN111914508A ,2020-11-10

[10]

电子元器件的调试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

谢思映 ;

罗俊杰 ;

么鹏 ;

韩滔 ;

郭晗 ;

沈郁博 ;

孔笑荷 ;

聂之君 ;

甘芸瑄 .

中国专利 :CN120352709A ,2025-07-22

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