器件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411571006.4

申请日：

2024-11-06

公开(公告)号：

CN119125828B

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

李宗缘武杰刘阿灶

申请人：

宁德时代新能源科技股份有限公司

申请人地址：

352100 福建省宁德市蕉城区漳湾镇新港路2号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

北京维飞联创知识产权代理有限公司 11857

代理人：

樊阳阳

法律状态：

授权

国省代码：

福建省宁德市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	授权	授权
2024-12-13	公开	公开
2024-12-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241106

共 50 条

[1]

器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李宗缘 ;

武杰 ;

刘阿灶 .

中国专利 :CN119125828A ,2024-12-13

[2]

电子元器件搜索方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢国清 ;

林颖朝 .

中国专利 :CN114912002A ,2022-08-16

[3]

器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

祁国 .

中国专利 :CN118394590A ,2024-07-26

[4]

器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

梁赛嫦 ;

吴佳蒙 ;

郭依腾 ;

曾丹 .

中国专利 :CN113740693A ,2021-12-03

[5]

一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李甲福 ;

潘朝松 ;

林甲威 ;

徐立 .

中国专利 :CN121143881A ,2025-12-16

[6]

元器件测试的方法、装置、电子设备、存储介质及程序 [P].

于斌斌 ;

文乔 .

中国专利 :CN119511016A ,2025-02-25

[7]

器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张楠 ;

冯慧 ;

高会壮 ;

谭士海 ;

王长鑫 ;

刘恒 .

中国专利 :CN119575125A ,2025-03-07

[8]

电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马丁立 ;

吴友鹏 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN119245867A ,2025-01-03

[9]

电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马丁立 ;

吴友鹏 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN119245867B ,2025-09-16

[10]

半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

彭春豪 .

中国专利 :CN114755552A ,2022-07-15

← 1 2 3 4 5 →