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一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511306559.1
申请日：
2025-09-12
公开(公告)号：
CN121143881A
公开(公告)日：
2025-12-16
发明(设计)人：
李甲福 潘朝松 林甲威 徐立
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G06F9/38
IPC分类号：
G01R31/00 G01R31/26 G01R31/28
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
苗芬芬
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-16 公开 公开
共 50 条
[1]
器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李宗缘 ;
武杰 ;
刘阿灶 .
中国专利 :CN119125828B ,2025-03-07
[2]
器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李宗缘 ;
武杰 ;
刘阿灶 .
中国专利 :CN119125828A ,2024-12-13
[3]
一种功耗测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
姚钦宝 .
中国专利 :CN119310327A ,2025-01-14
[4]
芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
朴英斗 ;
宋秀良 ;
刘金海 .
中国专利 :CN114121140A ,2022-03-01
[5]
器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张楠 ;
冯慧 ;
高会壮 ;
谭士海 ;
王长鑫 ;
刘恒 .
中国专利 :CN119575125A ,2025-03-07
[6]
器件的使用寿命测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王长鑫 ;
张如月 ;
高会壮 ;
张楠 ;
冯慧 .
中国专利 :CN117871980A ,2024-04-12
[7]
半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
彭春豪 .
中国专利 :CN114755552A ,2022-07-15
[8]
发光器件的测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
杨帆 ;
严怡然 ;
敖资通 ;
莫新娣 .
中国专利 :CN115704734A ,2023-02-17
[9]
器件封装检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何俭文 ;
湛银波 ;
陈杰 ;
萧尚礼 ;
张海涛 ;
覃圣 .
中国专利 :CN117494655A ,2024-02-02
[10]
测试仪表数据采集方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王鑫锐 .
中国专利 :CN115236435B ,2025-10-31
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