自动基板切片制作方法、量测方法、制作系统及量测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410979373.1

申请日：

2024-07-22

公开(公告)号：

CN119618762A

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

邹嘉骏王人杰林伯聪赖明正

申请人：

由田新技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1

IPC主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N21/88 G01N35/00

代理机构：

北京维澳知识产权代理有限公司 11252

代理人：

隋勤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	公开	公开
2025-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 1/28申请日:20240722

共 50 条

[1]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[2]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

[3]

基板量测系统及其方法 [P].

邹嘉骏 ;

林伯聪 ;

黄冠勋 ;

张勋豪 .

中国专利 :CN113390894A ,2021-09-14

[4]

量测系统、量测方法及存储介质 [P].

熊金磊 ;

范学仕 ;

臧笑妍 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117781899A ,2024-03-29

[5]

表面量测方法及表面量测系统 [P].

周智川 ;

杨沛哲 ;

陈建国 .

中国专利 :CN108662992B ,2018-10-16

[6]

量测手套及量测系统 [P].

张家齐 ;

萧子健 .

中国专利 :CN105455788A ,2016-04-06

[7]

量测方法以及虚拟量测系统 [P].

张永政 ;

傅学士 ;

王英郎 ;

郑芳田 .

中国专利 :CN101067742A ,2007-11-07

[8]

一种量测系统及玻璃基板的量测方法 [P].

邱敏 .

中国专利 :CN107792668B ,2018-03-13

[9]

电路板的量测方法、量测系统和量测装置 [P].

罗国瑜 .

中国专利 :CN118250906A ,2024-06-25

[10]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

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