一种可多角度调节的半导体检测用治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420883490.3

申请日：

2024-04-26

公开(公告)号：

CN222579957U

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

朱永兵

申请人：

天津瑞芯电子有限公司

申请人地址：

300000 天津市西青区张家窝镇安福道10号5号楼203厂房

IPC主分类号：

G01N21/84

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京盛联科创知识产权代理有限公司 11988

代理人：

孙小敏

法律状态：

授权

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测治具 [P].

杜浩晨 ;

高博 .

中国专利 :CN214278360U ,2021-09-24

[2]

一种多角度半导体检测设备 [P].

王赫龙 .

中国专利 :CN217846535U ,2022-11-18

[3]

一种多角度半导体检测设备 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN214201666U ,2021-09-14

[4]

一种多角度半导体检测设备 [P].

赵昊 .

中国专利 :CN221100802U ,2024-06-07

[5]

多角度调节治具 [P].

汪宜良 .

中国专利 :CN214603967U ,2021-11-05

[6]

一种多角度半导体检测设备 [P].

马迪 .

中国专利 :CN209028104U ,2019-06-25

[7]

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具 [P].

杜浩晨 ;

高博 .

中国专利 :CN213936150U ,2021-08-10

[8]

半导体检测治具 [P].

赵欣根 ;

姚鹏 ;

黄飞 .

中国专利 :CN209496055U ,2019-10-15

[9]

半导体检测治具 [P].

花雨晴 ;

吴东辉 ;

肖滨 ;

李刚 .

中国专利 :CN217404353U ,2022-09-09

[10]

一种半导体检测治具 [P].

陈磊磊 .

中国专利 :CN212722998U ,2021-03-16

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