一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120277705.3
申请日
2021-02-01
公开(公告)号
CN213936150U
公开(公告)日
2021-08-10
发明(设计)人
杜浩晨 高博
申请人
申请人地址
710086 陕西省西安市高新区新型工业园发展大道26号7号楼一层
IPC主分类号
H01L21677
IPC分类号
H01L2167
代理机构
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427
代理人
王营超
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具 [P]. 
朱永兵 .
中国专利 :CN211553774U ,2020-09-22
[2]
一种便于翻转的半导体检测用治具 [P]. 
尹锺晚 ;
王炜 ;
陶磊 ;
夏凯 ;
金恩泽 ;
唐庆余 .
中国专利 :CN223471111U ,2025-10-24
[3]
一种半导体检测用翻转治具 [P]. 
赵昊 .
中国专利 :CN220290784U ,2024-01-02
[4]
一种半导体检测治具 [P]. 
杜浩晨 ;
高博 .
中国专利 :CN214278360U ,2021-09-24
[5]
半导体检测治具 [P]. 
赵欣根 ;
姚鹏 ;
黄飞 .
中国专利 :CN209496055U ,2019-10-15
[6]
一种半导体检测治具 [P]. 
陈磊磊 .
中国专利 :CN212722998U ,2021-03-16
[7]
半导体检测治具 [P]. 
花雨晴 ;
吴东辉 ;
肖滨 ;
李刚 .
中国专利 :CN217404353U ,2022-09-09
[8]
一种用于半导体检测的治具 [P]. 
李云峰 .
中国专利 :CN215299220U ,2021-12-24
[9]
一种用于半导体检测的治具 [P]. 
孙帅伟 .
中国专利 :CN220473381U ,2024-02-09
[10]
一种可多角度调节的半导体检测用治具 [P]. 
朱永兵 .
中国专利 :CN222579957U ,2025-03-07