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一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120277705.3
申请日
:
2021-02-01
公开(公告)号
:
CN213936150U
公开(公告)日
:
2021-08-10
发明(设计)人
:
杜浩晨
高博
申请人
:
申请人地址
:
710086 陕西省西安市高新区新型工业园发展大道26号7号楼一层
IPC主分类号
:
H01L21677
IPC分类号
:
H01L2167
代理机构
:
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427
代理人
:
王营超
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具
[P].
朱永兵
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱永兵
.
中国专利
:CN211553774U
,2020-09-22
[2]
一种便于翻转的半导体检测用治具
[P].
尹锺晚
论文数:
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0
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0
机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
尹锺晚
;
王炜
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0
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机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
王炜
;
陶磊
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0
机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
陶磊
;
夏凯
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0
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0
机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
夏凯
;
金恩泽
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0
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0
机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
金恩泽
;
唐庆余
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州同冠微电子有限公司
苏州同冠微电子有限公司
唐庆余
.
中国专利
:CN223471111U
,2025-10-24
[3]
一种半导体检测用翻转治具
[P].
赵昊
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海秒尼科技术服务有限公司
上海秒尼科技术服务有限公司
赵昊
.
中国专利
:CN220290784U
,2024-01-02
[4]
一种半导体检测治具
[P].
杜浩晨
论文数:
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0
杜浩晨
;
高博
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0
高博
.
中国专利
:CN214278360U
,2021-09-24
[5]
半导体检测治具
[P].
赵欣根
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赵欣根
;
姚鹏
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姚鹏
;
黄飞
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黄飞
.
中国专利
:CN209496055U
,2019-10-15
[6]
一种半导体检测治具
[P].
陈磊磊
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0
陈磊磊
.
中国专利
:CN212722998U
,2021-03-16
[7]
半导体检测治具
[P].
花雨晴
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0
花雨晴
;
吴东辉
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吴东辉
;
肖滨
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肖滨
;
李刚
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李刚
.
中国专利
:CN217404353U
,2022-09-09
[8]
一种用于半导体检测的治具
[P].
李云峰
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0
h-index:
0
李云峰
.
中国专利
:CN215299220U
,2021-12-24
[9]
一种用于半导体检测的治具
[P].
孙帅伟
论文数:
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引用数:
0
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机构:
苏州格丽明电子科技有限公司
苏州格丽明电子科技有限公司
孙帅伟
.
中国专利
:CN220473381U
,2024-02-09
[10]
一种可多角度调节的半导体检测用治具
[P].
朱永兵
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天津瑞芯电子有限公司
天津瑞芯电子有限公司
朱永兵
.
中国专利
:CN222579957U
,2025-03-07
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