半导体检测治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821663184.X

申请日：

2018-10-15

公开(公告)号：

CN209496055U

公开(公告)日：

2019-10-15

发明(设计)人：

赵欣根姚鹏黄飞

申请人：

申请人地址：

201700 上海市青浦区工业园区崧泽大道9688号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

上海市嘉华律师事务所 31285

代理人：

黄琮;傅云

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-15	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体检测治具 [P].

花雨晴 ;

吴东辉 ;

肖滨 ;

李刚 .

中国专利 :CN217404353U ,2022-09-09

[2]

一种半导体检测治具 [P].

陈磊磊 .

中国专利 :CN212722998U ,2021-03-16

[3]

一种半导体检测治具 [P].

杜浩晨 ;

高博 .

中国专利 :CN214278360U ,2021-09-24

[4]

一种用于半导体检测的治具 [P].

李云峰 .

中国专利 :CN215299220U ,2021-12-24

[5]

一种用于半导体检测的治具 [P].

孙帅伟 .

中国专利 :CN220473381U ,2024-02-09

[6]

一种半导体检测用翻转治具 [P].

赵昊 .

中国专利 :CN220290784U ,2024-01-02

[7]

半导体检测治具及其使用方法 [P].

刘强 ;

杨平 ;

陈城 .

中国专利 :CN120740397A ,2025-10-03

[8]

一种便于翻转的半导体检测用治具 [P].

尹锺晚 ;

王炜 ;

陶磊 ;

夏凯 ;

金恩泽 ;

唐庆余 .

中国专利 :CN223471111U ,2025-10-24

[9]

半导体检测治具及其控制方法、测试系统 [P].

胡先德 .

中国专利 :CN117930087A ,2024-04-26

[10]

半导体测试治具 [P].

向彪 .

中国专利 :CN207232320U ,2018-04-13

← 1 2 3 4 5 →