一种便于翻转的半导体检测用治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422613307.0

申请日：

2024-10-29

公开(公告)号：

CN223471111U

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

尹锺晚王炜陶磊夏凯金恩泽唐庆余

申请人：

苏州同冠微电子有限公司

申请人地址：

215617 江苏省苏州市张家港经济技术开发区新丰东路3号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231

代理人：

吕小丽

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用翻转治具 [P].

赵昊 .

中国专利 :CN220290784U ,2024-01-02

[2]

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具 [P].

杜浩晨 ;

高博 .

中国专利 :CN213936150U ,2021-08-10

[3]

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具 [P].

朱永兵 .

中国专利 :CN211553774U ,2020-09-22

[4]

半导体检测治具 [P].

赵欣根 ;

姚鹏 ;

黄飞 .

中国专利 :CN209496055U ,2019-10-15

[5]

一种半导体检测治具 [P].

陈磊磊 .

中国专利 :CN212722998U ,2021-03-16

[6]

一种半导体检测治具 [P].

杜浩晨 ;

高博 .

中国专利 :CN214278360U ,2021-09-24

[7]

半导体检测治具 [P].

花雨晴 ;

吴东辉 ;

肖滨 ;

李刚 .

中国专利 :CN217404353U ,2022-09-09

[8]

一种用于半导体检测的治具 [P].

李云峰 .

中国专利 :CN215299220U ,2021-12-24

[9]

一种用于半导体检测的治具 [P].

孙帅伟 .

中国专利 :CN220473381U ,2024-02-09

[10]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

宋忠涛 ;

孙星星 .

中国专利 :CN222689783U ,2025-03-28

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