一种调控辉光放电质谱深度溅射的磁场装置及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311338576.4

申请日：

2023-10-16

公开(公告)号：

CN119852162A

公开(公告)日：

2025-04-18

发明(设计)人：

钱荣何成根曾旺张越刘安琦盛成

申请人：

中国科学院上海硅酸盐研究所

申请人地址：

200050 上海市长宁区定西路1295号

IPC主分类号：

H01J49/20

IPC分类号：

H01J49/26 H01J49/04

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31251

代理人：

周梦娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01J 49/20申请日:20231016
2025-04-18	公开	公开
2025-10-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种调控辉光放电质谱深度溅射的磁场装置及其方法 [P].

钱荣 ;

何成根 ;

曾旺 ;

张越 ;

刘安琦 ;

盛成 .

中国专利 :CN119852162B ,2025-10-28

[2]

调节辉光放电质谱溅射的同心圆磁场装置及其使用方法 [P].

钱荣 ;

张越 ;

何成根 ;

卓尚军 ;

泮嘉玮 ;

李显 ;

盛成 .

中国专利 :CN119028802B ,2025-09-16

[3]

调节辉光放电质谱溅射的同心圆磁场装置及其使用方法 [P].

钱荣 ;

张越 ;

何成根 ;

卓尚军 ;

泮嘉玮 ;

李显 ;

盛成 .

中国专利 :CN119028802A ,2024-11-26

[4]

辉光放电系统以及使用其的辉光放电质谱装置 [P].

高桥孝广 .

中国专利 :CN109192649B ,2019-01-11

[5]

一种辉光放电质谱中镓的检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

边逸军 ;

王学泽 ;

周童 .

中国专利 :CN111638267A ,2020-09-08

[6]

一种辉光放电质谱中镓的检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

边逸军 ;

王学泽 ;

周童 .

中国专利 :CN111638267B ,2024-05-14

[7]

一种铌粉末的辉光放电质谱检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

叶科奇 ;

钟伟华 ;

石春红 .

中国专利 :CN115524390A ,2022-12-27

[8]

一种钽粉末的辉光放电质谱检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

叶科奇 ;

钟伟华 ;

石春红 .

中国专利 :CN115436460A ,2022-12-06

[9]

一种辉光放电质谱用样品夹 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

温毅博 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN212848303U ,2021-03-30

[10]

一种用于辉光放电质谱检测的制样方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

任聪聪 ;

钟伟华 ;

温毅博 .

中国专利 :CN119321935A ,2025-01-17

← 1 2 3 4 5 →