一种芯片的测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411755047.9

申请日：

2024-12-03

公开(公告)号：

CN119310443B

公开(公告)日：

2025-04-11

发明(设计)人：

杨卓凯胡华文陈建强王嘉星

申请人：

深圳博升光电科技有限公司

申请人地址：

518045 广东省深圳市福田保税区桃花路17号江贸工贸仓储楼三层整层

IPC主分类号：

G01R31/311

IPC分类号：

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435

代理人：

郭栋梁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/311申请日:20241203
2025-04-11	授权	授权
2025-01-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片的测试系统 [P].

杨卓凯 ;

胡华文 ;

陈建强 ;

王嘉星 .

中国专利 :CN119310443A ,2025-01-14

[2]

一种芯片的测试系统 [P].

杨卓凯 ;

胡华文 ;

陈建强 ;

王嘉星 .

中国专利 :CN223565832U ,2025-11-18

[3]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02

[4]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112309487B ,2024-04-12

[5]

一种芯片测试系统 [P].

殷岚勇 ;

许成朋 ;

吉迎冬 .

中国专利 :CN118731657B ,2024-12-03

[6]

一种芯片测试系统 [P].

阳媛 ;

高唯欢 ;

胡晓明 .

中国专利 :CN108008284A ,2018-05-08

[7]

一种芯片测试系统 [P].

殷岚勇 ;

许成朋 ;

吉迎冬 .

中国专利 :CN118731657A ,2024-10-01

[8]

一种射频芯片测试系统 [P].

李茂 ;

谢凯 ;

谢晓昆 ;

张亦锋 ;

辜诗涛 .

中国专利 :CN210647355U ,2020-06-02

[9]

一种存储芯片的测试系统 [P].

谢杰志 .

中国专利 :CN221427378U ,2024-07-26

[10]

芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

林楷辉 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25

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