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以氮化镓为外延层的半导体器件制备方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411868773.1
申请日
:
2024-12-18
公开(公告)号
:
CN119730517A
公开(公告)日
:
2025-03-28
发明(设计)人
:
罗凯
王子荣
康凯
王农华
申请人
:
广东中图半导体科技股份有限公司
申请人地址
:
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业北二路4号
IPC主分类号
:
H10H29/03
IPC分类号
:
H10H20/825
代理机构
:
北京佳信天和知识产权代理事务所(普通合伙) 11939
代理人
:
张通
法律状态
:
授权
国省代码
:
河北省 保定市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-03
授权
授权
2025-04-15
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10H 29/03申请日:20241218
2025-03-28
公开
公开
共 50 条
[1]
以氮化镓为外延层的半导体器件制备方法
[P].
罗凯
论文数:
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机构:
广东中图半导体科技股份有限公司
广东中图半导体科技股份有限公司
罗凯
;
王子荣
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机构:
广东中图半导体科技股份有限公司
广东中图半导体科技股份有限公司
王子荣
;
康凯
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机构:
广东中图半导体科技股份有限公司
广东中图半导体科技股份有限公司
康凯
;
王农华
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机构:
广东中图半导体科技股份有限公司
广东中图半导体科技股份有限公司
王农华
.
中国专利
:CN119730517B
,2025-10-03
[2]
氮化镓外延层及半导体器件
[P].
林信南
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林信南
;
刘美华
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刘美华
;
刘岩军
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刘岩军
.
中国专利
:CN210866192U
,2020-06-26
[3]
氮化镓外延层及半导体器件
[P].
林信南
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林信南
;
刘美华
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刘美华
;
刘岩军
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刘岩军
.
中国专利
:CN210897292U
,2020-06-30
[4]
氮化镓外延层、半导体器件及所述半导体器件的制备方法
[P].
林信南
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林信南
;
刘美华
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刘美华
;
刘岩军
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刘岩军
.
中国专利
:CN110620158A
,2019-12-27
[5]
氮化镓外延层、半导体器件及所述半导体器件的制备方法
[P].
林信南
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机构:
深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
林信南
;
刘美华
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深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
刘美华
;
刘岩军
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机构:
深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
刘岩军
.
中国专利
:CN110620158B
,2025-06-03
[6]
一种氮化镓外延层、半导体器件及其制备方法
[P].
林信南
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林信南
;
刘美华
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刘美华
;
刘岩军
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刘岩军
.
中国专利
:CN110620157A
,2019-12-27
[7]
一种氮化镓外延层、半导体器件及其制备方法
[P].
林信南
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机构:
深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
林信南
;
刘美华
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深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
刘美华
;
刘岩军
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机构:
深圳市晶相技术有限公司
深圳市晶相技术有限公司
刘岩军
.
中国专利
:CN110620157B
,2024-10-25
[8]
一种氮化镓外延层及半导体器件
[P].
林信南
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林信南
;
刘美华
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刘美华
;
刘岩军
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刘岩军
.
中国专利
:CN210866191U
,2020-06-26
[9]
氮化镓外延层的制备方法及氮化镓外延层
[P].
尹甲运
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尹甲运
;
房玉龙
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房玉龙
;
王波
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王波
;
郭艳敏
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郭艳敏
;
张志荣
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张志荣
;
李佳
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李佳
;
芦伟立
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芦伟立
.
中国专利
:CN109119333B
,2019-01-01
[10]
生长氮化镓的方法、氮化镓外延结构及半导体器件
[P].
肖怀曙
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肖怀曙
;
谢春林
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谢春林
.
中国专利
:CN108242385A
,2018-07-03
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