一种半导体产品检测设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510294659.0
申请日
2025-03-13
公开(公告)号
CN119812066A
公开(公告)日
2025-04-11
发明(设计)人
徐维哲 刘意 杨靖 王鹏
申请人
芯蓥智铖(重庆)科技有限公司
申请人地址
400000 重庆市大渡口区跳磴镇海康路106号1号楼801
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
H01L21/677 H01L21/68 H01L21/66
代理机构
上海申晟知识产权代理有限公司 31444
代理人
许春生
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体产品检测设备 [P]. 
徐维哲 ;
刘意 ;
杨靖 ;
王鹏 .
中国专利 :CN119812066B ,2025-05-16
[2]
一种半导体产品搬运设备 [P]. 
徐维哲 ;
李坤明 .
中国专利 :CN119833456A ,2025-04-15
[3]
一种半导体产品搬运设备 [P]. 
徐维哲 ;
李坤明 .
中国专利 :CN119833456B ,2025-05-16
[4]
半导体产品检测机 [P]. 
魏冬 ;
张建华 ;
李震宇 ;
吕松霖 ;
陈安利 ;
李磊 .
中国专利 :CN203225236U ,2013-10-02
[5]
一种半导体产品检测用夹具 [P]. 
陈富伦 .
中国专利 :CN218003491U ,2022-12-09
[6]
半导体产品检测机及其检测方法 [P]. 
魏冬 ;
张建华 ;
李震宇 ;
吕松霖 ;
陈安利 ;
李磊 .
中国专利 :CN103021899A ,2013-04-03
[7]
一种半导体封装产品检测工装 [P]. 
尤红权 ;
邓光伟 ;
朱志松 ;
陈磊 .
中国专利 :CN223229638U ,2025-08-15
[8]
一种用于半导体产品生产的检测设备 [P]. 
江志祥 .
中国专利 :CN115346895A ,2022-11-15
[9]
一种用于半导体产品生产的检测设备 [P]. 
欧阳灿 ;
裴彦明 ;
龙志青 ;
冷仁兵 .
中国专利 :CN215678488U ,2022-01-28
[10]
一种半导体光学检测设备 [P]. 
潘光玉 ;
刘锋武 ;
叶涵 .
中国专利 :CN217521044U ,2022-09-30