GIS缺陷检测方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411905225.1

申请日：

2024-12-23

公开(公告)号：

CN119741283A

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

曾德华郭玉华向黔川

申请人：

四川赛康智能科技股份有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市高新区益州大道中段1800号4栋4层

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/46 G06V10/764

代理机构：

四川德韬专利代理事务所(普通合伙) 51386

代理人：

嬴雨径

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241223
2025-04-01	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测模型训练、GIS设备缺陷检测方法及相关装置 [P].

郝建 ;

李滢 ;

李旭 ;

邵子琦 ;

车昊伦 ;

许晶 ;

王吉祥 ;

夏若淳 ;

曾倩 ;

刘清松 .

中国专利 :CN117591962A ,2024-02-23

[2]

GIS缺陷模拟方法及装置 [P].

彭兆伟 ;

王聪 ;

江长明 ;

刘健 ;

李亚美 ;

王超 ;

贾琳 ;

黄诗洋 ;

雷雨 ;

苏雁飞 ;

徐党国 ;

卢毅 ;

李志刚 ;

高岩峰 ;

穆卡 .

中国专利 :CN120387299A ,2025-07-29

[3]

一种GIS缺陷检测装置及方法 [P].

曾德华 ;

宋思玉 ;

杨东 ;

张征 ;

杨焘 ;

张茂 ;

李攀 ;

陈展 ;

何鑫 .

中国专利 :CN113777484A ,2021-12-10

[4]

瓶口缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

林国森 ;

高凌燕 .

中国专利 :CN117036273B ,2025-11-25

[5]

GIS/GIL微缺陷离线检测方法及装置 [P].

李传扬 ;

范贤浩 ;

罗汉华 ;

梁芳蔚 ;

何金良 .

中国专利 :CN118566655A ,2024-08-30

[6]

一种GIS绝缘缺陷检测方法 [P].

赵勇军 ;

谭向宇 ;

王科 ;

彭晶 ;

赵现平 ;

马仪 ;

周年荣 ;

张文斌 ;

黄星 ;

程志万 ;

杨晴 ;

李秉睿 ;

马国明 .

中国专利 :CN108535618A ,2018-09-14

[7]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23

[8]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

山崎隆一 .

中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09

[9]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30

[10]

缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P].

杨学红 .

中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07

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