高电子迁移率晶体管

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411090414.8
申请日
2024-08-09
公开(公告)号
CN119815861A
公开(公告)日
2025-04-11
发明(设计)人
M·D·莱维 J·A·康塔洛夫斯基 M·J·齐拉克 S·沙马 S·J·本特利
申请人
格芯(美国)集成电路科技有限公司
申请人地址
美国
IPC主分类号
H10D30/47
IPC分类号
H10D30/01 H10D64/00
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
林莹莹;牛南辉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
B·T·库奇 ;
J·M·德安格里斯 ;
S·H·波特 ;
T·S·威尔斯 ;
M·D·莱维 .
美国专利 :CN119835984A ,2025-04-15
[2]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
肖金平 ;
逯永建 ;
闻永祥 ;
贾利芳 .
中国专利 :CN211789027U ,2020-10-27
[3]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
杨伟臣 ;
何伟志 .
中国专利 :CN120111925A ,2025-06-06
[4]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
S·沙玛 ;
M·J·齐拉克 ;
S·J·本特利 ;
M·D·莱维 .
美国专利 :CN118156297A ,2024-06-07
[5]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
魏星 ;
王中健 ;
狄增峰 ;
方子韦 .
中国专利 :CN103745989B ,2014-04-23
[6]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
S·夏尔马 ;
S·本特利 .
美国专利 :CN117650170A ,2024-03-05
[7]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
S·夏尔马 ;
R·克里希纳萨米 ;
J·A·康塔洛夫斯基 .
美国专利 :CN118116968A ,2024-05-31
[8]
高电子迁移率晶体管结构和高电子迁移率晶体管 [P]. 
蔡政原 .
中国专利 :CN214705936U ,2021-11-12
[9]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
乔夫·德卢伊 .
:CN110754002B ,2024-03-19
[10]
高电子迁移率晶体管 [P]. 
黄仁俊 ;
吴在浚 ;
李在垣 ;
崔孝枝 ;
河种奉 .
中国专利 :CN103151374A ,2013-06-12