晶圆缺陷图绘制方法、装置、设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411902838.X

申请日：

2024-12-23

公开(公告)号：

CN119832117A

公开(公告)日：

2025-04-15

发明(设计)人：

请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

深存科技（无锡）有限公司

申请人地址：

214028 江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座401、402室

IPC主分类号：

G06T11/20

IPC分类号：

G06T11/60 G06T11/40

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

张浩

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省无锡市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 11/20申请日:20241223
2025-04-15	公开	公开

共 50 条

[1]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

万珣 ;

苗小明 ;

蒙亮亮 .

中国专利 :CN120300019A ,2025-07-11

[2]

晶圆缺陷分类方法、设备、系统、存储介质及程序产品 [P].

曾柏伟 ;

任兵 ;

赵鑫源 ;

李泽文 .

中国专利 :CN119963877A ,2025-05-09

[3]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

陈志科 ;

胡辰 ;

王森 .

中国专利 :CN119904412A ,2025-04-29

[4]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

张保红 .

中国专利 :CN119863466A ,2025-04-22

[5]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

张保红 .

中国专利 :CN119863466B ,2025-06-24

[6]

晶圆缺陷抽样规则推荐方法、设备、存储介质及程序产品 [P].

张强 ;

阙士芯 ;

蒋越 ;

赵京雷 .

中国专利 :CN118733842A ,2024-10-01

[7]

流程图绘制方法、设备、存储介质及程序产品 [P].

张敏 ;

唐伟豪 ;

熊典 ;

翟娜 .

中国专利 :CN115526951A ,2022-12-27

[8]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

梅爽 ;

王祥铜 ;

华凯 ;

周恒 ;

李华君 ;

胡彦潮 .

中国专利 :CN117994250B ,2024-06-21

[9]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈子健 ;

侯晓峰 ;

朱磊 ;

张弛 .

中国专利 :CN118212218A ,2024-06-18

[10]

晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

梅爽 ;

王祥铜 ;

华凯 ;

周恒 ;

李华君 ;

胡彦潮 .

中国专利 :CN117994250A ,2024-05-07

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