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基于AutoHotKeyd的自动化测试方法、装置和电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411741018.7
申请日：
2024-11-29
公开(公告)号：
CN119718915A
公开(公告)日：
2025-03-28
发明(设计)人：
程硕 何春来 刘京龙 王卫军
申请人：
中电科机器人有限公司
申请人地址：
200001 上海市黄浦区龙华东路647号16楼
IPC主分类号：
G06F11/3668
IPC分类号：
G06Q10/10
代理机构：
北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387
代理人：
刘春成
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-15 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241129
2025-03-28 公开 公开
共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
钟锋浩 ;
金睿 ;
李泽宇 ;
宋成伟 .
中国专利 :CN119149319B ,2025-06-20
[2]
自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
钟锋浩 ;
金睿 ;
李泽宇 ;
宋成伟 .
中国专利 :CN119149319A ,2024-12-17
[3]
自动化测试方法、装置、介质和电子设备 [P]. 
张钊 ;
杨萍 .
中国专利 :CN110083529B ,2019-08-02
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备和介质 [P]. 
王晴 .
中国专利 :CN118672887A ,2024-09-20
[5]
基于大模型的自动化测试方法、装置、电子设备 [P]. 
祝思 .
中国专利 :CN119127686A ,2024-12-13
[6]
晶圆的自动化测试方法、装置和电子设备 [P]. 
朱晓敏 ;
王弘 ;
安亚宁 ;
高能 ;
周俊宇 ;
冯新龙 .
中国专利 :CN119965135A ,2025-05-09
[7]
晶圆的自动化测试方法、装置和电子设备 [P]. 
朱晓敏 ;
王弘 ;
安亚宁 ;
高能 ;
周俊宇 ;
冯新龙 .
中国专利 :CN119965135B ,2025-09-05
[8]
自动化测试方法、装置、系统、介质和电子设备 [P]. 
张雪 ;
邓小华 .
中国专利 :CN109933519A ,2019-06-25
[9]
自动化测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
李家敏 ;
严桂红 .
中国专利 :CN111462811A ,2020-07-28
[10]
自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
楼珊 ;
林咸芳 ;
潘红民 ;
胡靖宣 .
中国专利 :CN120256303A ,2025-07-04
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