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一种晶圆刻蚀方法及其刻蚀装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411376259.6
申请日
:
2024-09-30
公开(公告)号
:
CN119252768B
公开(公告)日
:
2025-04-29
发明(设计)人
:
吴昊
冯羽
申请人
:
嘉兴傲威半导体有限公司
申请人地址
:
314000 浙江省嘉兴市海宁市马桥街道沧平路1号1幢1层103室
IPC主分类号
:
H01L21/67
IPC分类号
:
H01L21/68
H01L21/306
代理机构
:
无锡知更鸟知识产权代理事务所(普通合伙) 32468
代理人
:
张胜飞
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-29
授权
授权
2025-01-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/67申请日:20240930
2025-01-03
公开
公开
共 50 条
[1]
一种晶圆刻蚀方法及其刻蚀装置
[P].
吴昊
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
嘉兴傲威半导体有限公司
嘉兴傲威半导体有限公司
吴昊
;
冯羽
论文数:
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机构:
嘉兴傲威半导体有限公司
嘉兴傲威半导体有限公司
冯羽
.
中国专利
:CN119252768A
,2025-01-03
[2]
晶圆刻蚀装置及晶圆刻蚀方法
[P].
李丹
论文数:
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0
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李丹
;
高英哲
论文数:
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高英哲
;
张文福
论文数:
0
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0
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张文福
;
刘家桦
论文数:
0
引用数:
0
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刘家桦
;
叶日铨
论文数:
0
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叶日铨
.
中国专利
:CN109950180A
,2019-06-28
[3]
晶圆刻蚀装置及其刻蚀方法
[P].
刘聪
论文数:
0
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0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
刘聪
;
储郁冬
论文数:
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0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
储郁冬
.
中国专利
:CN117558607A
,2024-02-13
[4]
晶圆刻蚀方法
[P].
刘浩
论文数:
0
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0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
刘浩
.
中国专利
:CN120033075A
,2025-05-23
[5]
斜面刻蚀装置及晶圆刻蚀方法
[P].
戴绍龙
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戴绍龙
;
肖正梨
论文数:
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肖正梨
;
胡军
论文数:
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胡军
.
中国专利
:CN108666244A
,2018-10-16
[6]
刻蚀装置和晶圆刻蚀方法
[P].
张涛
论文数:
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
张涛
;
张彬彬
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
张彬彬
;
苏財钰
论文数:
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
苏財钰
;
陈洋
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
陈洋
;
黄先康
论文数:
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
黄先康
.
中国专利
:CN117711897A
,2024-03-15
[7]
一种刻蚀机台的晶圆刻蚀方法
[P].
吴晓彤
论文数:
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吴晓彤
;
吴智勇
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吴智勇
.
中国专利
:CN115662891A
,2023-01-31
[8]
晶圆及其刻蚀方法
[P].
汪良恩
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汪良恩
;
张小明
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张小明
;
汪曦凌
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汪曦凌
.
中国专利
:CN104465360A
,2015-03-25
[9]
晶圆刻蚀系统及晶圆刻蚀方法
[P].
梁梦诗
论文数:
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梁梦诗
;
聂钰节
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0
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聂钰节
.
中国专利
:CN109698147A
,2019-04-30
[10]
一种晶圆刻蚀装置及刻蚀方法
[P].
李彦庆
论文数:
0
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
李彦庆
;
论文数:
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机构:
孙守红
;
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机构:
余毅
;
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机构:
郭同健
;
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机构:
何锋赟
;
张海宇
论文数:
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
张海宇
.
中国专利
:CN117810136B
,2024-04-30
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