SEM图像的处理方法、装置、设备、介质及产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411944332.5

申请日：

2024-12-26

公开(公告)号：

CN119888323A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

请求不公布姓名刘成成韩春营

申请人：

东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06V10/40 G06V10/44 G06V10/30 G06V10/82

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

杨永恒

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20241226

共 50 条

[1]

图像缺陷分类方法、设备、介质及产品 [P].

包达文 ;

田亦农 ;

鄢昌莲 .

中国专利 :CN120219292A ,2025-06-27

[2]

图像匹配方法、设备、介质及产品 [P].

黄旭 ;

刘成成 ;

韩春营 .

中国专利 :CN120298725A ,2025-07-11

[3]

掩膜处理方法、装置、设备、介质及产品 [P].

黄果 ;

丁明 .

中国专利 :CN119762504A ,2025-04-04

[4]

掩模版图的处理方法、装置、设备、介质及产品 [P].

马柯 ;

丁明 ;

李柏珍 .

中国专利 :CN120335227A ,2025-07-18

[5]

掩模版图的处理方法、装置、设备、介质及产品 [P].

周桌霖 .

中国专利 :CN119882344A ,2025-04-25

[6]

掩模版图的处理方法、装置、设备、介质及产品 [P].

周桌霖 .

中国专利 :CN119882344B ,2025-10-17

[7]

基于哈希计算的缺陷处理方法、装置、设备、介质及产品 [P].

张鸿儒 ;

王语彤 .

中国专利 :CN120597831A ,2025-09-05

[8]

一种基于图像生成模型的SEM图像缺陷检测方法及装置 [P].

陈龙 ;

请求不公布姓名 ;

侯健 .

中国专利 :CN121213477A ,2025-12-26

[9]

SEM图像矫正方法、装置、设备、介质及产品 [P].

鄢昌莲 ;

包达文 ;

黄守艳 .

中国专利 :CN119130869A ,2024-12-13

[10]

图像处理方法、装置、存储介质、电子设备及程序产品 [P].

宿伟星 ;

张子寻 ;

宋宇宁 ;

赵春雷 .

中国专利 :CN120495696A ,2025-08-15

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