图像缺陷分类方法、设备、介质及产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510229183.2
申请日
2025-02-27
公开(公告)号
CN120219292A
公开(公告)日
2025-06-27
发明(设计)人
包达文 田亦农 鄢昌莲
申请人
东方晶源微电子科技(上海)有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06V10/764 G06V10/40 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/08
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
彭琼
法律状态
公开
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
SEM图像的处理方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
请求不公布姓名 ;
刘成成 ;
韩春营 .
中国专利 :CN119888323A ,2025-04-25
[2]
图像匹配方法、设备、介质及产品 [P]. 
黄旭 ;
刘成成 ;
韩春营 .
中国专利 :CN120298725A ,2025-07-11
[3]
缺陷版图的修复方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
黄杰 .
中国专利 :CN119575751B ,2025-10-03
[4]
缺陷版图的修复方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
黄杰 .
中国专利 :CN119575751A ,2025-03-07
[5]
基于哈希计算的缺陷处理方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
张鸿儒 ;
王语彤 .
中国专利 :CN120597831A ,2025-09-05
[6]
版图缺陷位置的确定方法、装置、设备、介质及程序产品 [P]. 
何平 ;
张鸿儒 ;
丁明 .
中国专利 :CN119416733A ,2025-02-11
[7]
一种基于图像生成模型的SEM图像缺陷检测方法及装置 [P]. 
陈龙 ;
请求不公布姓名 ;
侯健 .
中国专利 :CN121213477A ,2025-12-26
[8]
掩膜排版方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
刘云涛 ;
甘远 .
中国专利 :CN119830843A ,2025-04-15
[9]
掩膜处理方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
黄果 ;
丁明 .
中国专利 :CN119762504A ,2025-04-04
[10]
机台控制方法、装置、电子设备、介质及产品 [P]. 
王迪 ;
张洪彪 ;
李宏飞 ;
王庆涛 ;
席阳 ;
史晋峰 ;
韩春营 .
中国专利 :CN120388906A ,2025-07-29