半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010566015.X
申请日
2020-06-19
公开(公告)号
CN113823688B
公开(公告)日
2025-05-02
发明(设计)人
景友亮
申请人
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H10D30/60
IPC分类号
H10D30/01
代理机构
北京市一法律师事务所 11654
代理人
刘荣娟
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
景友亮 .
中国专利 :CN113823688A ,2021-12-21
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 .
中国专利 :CN104617093B ,2015-05-13
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张海洋 ;
纪世良 ;
周玉华 .
中国专利 :CN112289687A ,2021-01-29
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN112951725A ,2021-06-11
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
倪景华 ;
李凤莲 .
中国专利 :CN103187448B ,2013-07-03
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
景友亮 .
中国专利 :CN113764279B ,2024-11-01
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN111223779A ,2020-06-02
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
景友亮 .
中国专利 :CN113764279A ,2021-12-07
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
雒曲 ;
谢文浩 .
中国专利 :CN113690185A ,2021-11-23
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
马雪丽 ;
王文武 ;
赵超 .
中国专利 :CN105932053B ,2016-09-07