三维形状检查装置及三维形状检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380069845.3

申请日：

2023-01-27

公开(公告)号：

CN119968544A

公开(公告)日：

2025-05-09

发明(设计)人：

崔亨守姜仁圣全文营

申请人：

株式会社高迎科技

申请人地址：

韩国首尔市

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01B11/06 G01N21/17 G01N21/64 G02B21/00

代理机构：

北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384

代理人：

郑青松

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-09	公开	公开
2025-05-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20230127

共 50 条

[1]

三维形状检查装置及三维形状检查方法 [P].

崔亨守 ;

姜仁圣 ;

全文营 .

韩国专利 :CN119968543A ,2025-05-09

[2]

三维形状检查方法 [P].

郑仲基 .

中国专利 :CN102192715B ,2011-09-21

[3]

形状评价方法、形状评价装置及三维检查装置 [P].

三田太一 ;

蔦森秀夫 ;

中川浩行 .

中国专利 :CN101680752A ,2010-03-24

[4]

三维形状测量装置 [P].

石原满宏 .

中国专利 :CN103245302A ,2013-08-14

[5]

三维形状测量装置 [P].

堀口千代春 ;

高桥繁夫 ;

天野哲夫 ;

松浦浩幸 ;

渡濑库治 ;

书马日出男 .

中国专利 :CN1089891C ,1998-03-18

[6]

三维形状测量装置 [P].

朱哲敏 ;

成百天 .

韩国专利 :CN118871744A ,2024-10-29

[7]

三维形状测定装置 [P].

农宗千典 ;

乡司裕介 ;

坂东贤也 ;

野村昭 ;

山田正彰 .

中国专利 :CN207395678U ,2018-05-22

[8]

三维形状测量装置及方法 [P].

高光一 ;

成银莹 ;

全文荣 ;

金珉永 ;

李承埈 .

中国专利 :CN101514893B ,2009-08-26

[9]

三维形状测量装置及方法 [P].

高光一 ;

成银莹 ;

全文荣 ;

金珉永 ;

李承埈 .

中国专利 :CN100520286C ,2007-06-20

[10]

三维形状测量设备 [P].

许浈 ;

全文荣 ;

金弘珉 ;

尹相圭 ;

洪钟圭 .

中国专利 :CN101943570B ,2011-01-12

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