智能存储器装置测试架

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011510696.4

申请日：

2020-12-18

公开(公告)号：

CN112992263B

公开(公告)日：

2025-05-27

发明(设计)人：

G·D·哈默 M·R·斯皮卡 D·谢泼德 P·卡拉赫尔 J·达罗查沙维斯

申请人：

美光科技公司

申请人地址：

美国爱达荷州

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/50

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

王龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-27	授权	授权

共 50 条

[1]

智能存储器装置测试架 [P].

G·D·哈默 ;

M·R·斯皮卡 ;

D·谢泼德 ;

P·卡拉赫尔 ;

J·达罗查沙维斯 .

中国专利 :CN112992263A ,2021-06-18

[2]

智能存储器装置测试资源 [P].

G·D·哈默 .

美国专利 :CN112992255B ,2025-07-15

[3]

智能存储器装置测试资源 [P].

G·D·哈默 .

中国专利 :CN112992255A ,2021-06-18

[4]

存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统 [P].

陈泓俊 ;

崔原英 ;

金充满 ;

李永锡 .

韩国专利 :CN118262780A ,2024-06-28

[5]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30

[6]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05

[7]

将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试 [P].

G·D·哈默 ;

M·T·布拉迪 ;

W·A·马库斯 ;

L·J·考德莱 .

中国专利 :CN112992262A ,2021-06-18

[8]

将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试 [P].

G·D·哈默 ;

M·T·布拉迪 ;

W·A·马库斯 ;

L·J·考德莱 .

美国专利 :CN112992262B ,2024-06-04

[9]

存储器测试 [P].

P·S·休斯 .

中国专利 :CN101101794A ,2008-01-09

[10]

智能存储器 [P].

赛勒斯·库玛 ;

威廉姆·林奇 .

中国专利 :CN103081434B ,2013-05-01

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