一种主板测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111290153.0

申请日：

2021-11-02

公开(公告)号：

CN114089158B

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

代华锋罗文君赵兵张祥标王光星姜毅傅绘斌高爽笑朱树春曾金越许晴

申请人：

合肥联宝信息技术有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦四楼418号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01B11/00

代理机构：

北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734

代理人：

陈婷婷

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省合肥市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	授权	授权
2025-07-22	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:发明人变更前:代华锋罗文君赵兵张祥标王光星姜毅傅绘斌高爽笑朱树春曾金越许晴变更后:代华锋罗文君赵兵张祥标王光星姜毅付绘彬高爽笑朱树春曾金越许晴

共 50 条

[1]

一种主板测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

代华锋 ;

罗文君 ;

赵兵 ;

张祥标 ;

王光星 ;

姜毅 ;

傅绘斌 ;

高爽笑 ;

朱树春 ;

曾金越 ;

许晴 .

中国专利 :CN114089158A ,2022-02-25

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈永亮 ;

牛锐 .

中国专利 :CN118733422A ,2024-10-01

[3]

一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

徐鹏军 ;

王宏伟 .

中国专利 :CN115729754B ,2024-12-24

[4]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

水洋为 ;

唐苗苗 ;

孙铭鸿 .

中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12

[5]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

赵建秀 .

中国专利 :CN113190456B ,2024-03-26

[6]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

王越 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 .

中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16

[7]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张珺 ;

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24

[8]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

王越 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 .

中国专利 :CN113220597A ,2021-08-06

[9]

一种测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P].

张鹏 ;

武建 .

中国专利 :CN115130097A ,2022-09-30

[10]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

赵建秀 .

中国专利 :CN113190456A ,2021-07-30

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