一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111020980.8

申请日：

2021-09-01

公开(公告)号：

CN115729754B

公开(公告)日：

2024-12-24

发明(设计)人：

徐鹏军王宏伟

申请人：

龙芯中科（成都）技术有限公司

申请人地址：

610212 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区中和街道吉龙二街400号第3层323-10号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

莎日娜

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-24	授权	授权

共 50 条

[1]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王朝翔 .

中国专利 :CN117971581A ,2024-05-03

[2]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗斐 .

中国专利 :CN118779167A ,2024-10-15

[3]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王建军 .

中国专利 :CN111835902A ,2020-10-27

[4]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李伟玲 ;

刘金胜 ;

苑京立 ;

李明明 ;

夏永强 ;

覃琴 ;

李伟 ;

张辉 .

中国专利 :CN118741401A ,2024-10-01

[5]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵旸 ;

王云嵩 ;

李添琦 ;

左永强 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN119902134A ,2025-04-29

[6]

设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质 [P].

王哲夫 ;

李航 .

中国专利 :CN119003304A ,2024-11-22

[7]

设备测试方法、电子设备及存储介质 [P].

吕燕顺 ;

万勤 ;

吴胜 ;

吕卓伦 .

中国专利 :CN112118149B ,2020-12-22

[8]

一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林丰 .

中国专利 :CN114116343A ,2022-03-01

[9]

一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周曼 ;

刘全玲 ;

韩琳琳 ;

吕东波 .

中国专利 :CN121070707A ,2025-12-05

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈永亮 ;

牛锐 .

中国专利 :CN118733422A ,2024-10-01

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