基于卷积神经网络的微型芯片外观缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510200022.0
申请日
2025-02-24
公开(公告)号
CN119693363B
公开(公告)日
2025-05-27
发明(设计)人
仝敬烁 薛伟 仝浩杰 姜红亮 胡洪 刘凯强 谢美奇
申请人
明益信(江苏)智能设备有限公司
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1875号008、009幢
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T7/11 G06T5/92 G06V10/764 G06V10/82 G06N3/0442 G06N3/0464 G06N3/045 G06N3/084 G06N3/09
代理机构
苏州和氏璧知识产权代理事务所(普通合伙) 32390
代理人
吴浩宇
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于卷积神经网络的微型芯片外观缺陷检测方法 [P]. 
仝敬烁 ;
薛伟 ;
仝浩杰 ;
姜红亮 ;
胡洪 ;
刘凯强 ;
谢美奇 .
中国专利 :CN119693363A ,2025-03-25
[2]
基于卷积神经网络的缺陷检测方法 [P]. 
张非凡 ;
王棠猛 ;
宋宪君 ;
徐志飞 .
中国专利 :CN119494822A ,2025-02-21
[3]
基于卷积神经网络的缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
仲丁元 ;
杨云仙 ;
温延培 .
中国专利 :CN117853452A ,2024-04-09
[4]
基于深度卷积神经网络的压敏电阻外观缺陷检测方法 [P]. 
杨铁军 ;
彭珊 ;
黄琳 .
中国专利 :CN109685774A ,2019-04-26
[5]
基于卷积神经网络的布匹缺陷检测方法 [P]. 
艾国 ;
赫工博 ;
杨敏 .
中国专利 :CN111210417A ,2020-05-29
[6]
基于卷积神经网络的管道视频缺陷检测方法 [P]. 
刘克会 ;
吕学强 ;
王艳霞 ;
李程 ;
徐栋 .
中国专利 :CN109559302A ,2019-04-02
[7]
基于卷积神经网络的镜片缺陷检测方法及其系统 [P]. 
陈龙 .
中国专利 :CN115496740A ,2022-12-20
[8]
基于卷积神经网络的图像缺陷检测方法及装置 [P]. 
王桂强 ;
贾钊 ;
胡恒广 .
中国专利 :CN119090807A ,2024-12-06
[9]
基于深度卷积神经网络的匀光板缺陷检测方法 [P]. 
衡伟龙 ;
李坤彬 .
中国专利 :CN110910372A ,2020-03-24
[10]
基于轻量级卷积神经网络和持续学习缺陷检测方法 [P]. 
吴衡 ;
何慧锋 ;
何炳宇 .
中国专利 :CN120339163A ,2025-07-18