融合边缘特征的芯片缺陷检测模型训练方法和检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510190162.4

申请日：

2025-02-20

公开(公告)号：

CN120125887A

公开(公告)日：

2025-06-10

发明(设计)人：

黄凯厉亚凯陈芳琦李金钗杨旭张荣

申请人：

厦门大学嘉庚创新实验室

申请人地址：

361005 福建省厦门市思明区思明南路422号

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06V10/82 G06V10/44 G06V10/774 G06N3/0464 G06N3/08 G06T7/00 G06T7/13

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

甄蒙蒙

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20250220
2025-06-10	公开	公开

共 50 条

[1]

边缘检测模型训练方法、边缘检测方法、设备及存储介质 [P].

温晓 .

中国专利 :CN118334492B ,2024-08-16

[2]

边缘检测模型训练方法、边缘检测方法、设备及存储介质 [P].

温晓 .

中国专利 :CN118334492A ,2024-07-12

[3]

缺陷检测模型的训练方法及缺陷检测方法 [P].

刘梦舒 ;

唐永亮 .

中国专利 :CN117809110A ,2024-04-02

[4]

缺陷检测方法和用于缺陷检测的模型训练方法 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111833306A ,2020-10-27

[5]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法和装置 [P].

张黎 .

中国专利 :CN119919754A ,2025-05-02

[6]

缺陷检测方法和用于缺陷检测的模型训练方法 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111833306B ,2024-02-13

[7]

缺陷检测模型训练方法和缺陷检测方法及装置和设备 [P].

韩春营 ;

黄守艳 ;

俞宗强 ;

蒋俊海 ;

马卫民 ;

曲诚 ;

李强 .

中国专利 :CN114723651B ,2025-03-28

[8]

缺陷检测模型训练方法和缺陷检测方法及装置和设备 [P].

韩春营 ;

黄守艳 ;

俞宗强 ;

蒋俊海 ;

马卫民 ;

曲诚 ;

李强 .

中国专利 :CN114723651A ,2022-07-08

[9]

表面缺陷检测模型训练方法、表面缺陷检测方法及系统 [P].

高红超 ;

卢盛林 .

中国专利 :CN113222950A ,2021-08-06

[10]

芯片模糊缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及设备 [P].

宇晓彤 ;

孙海晶 ;

傅成城 ;

张祎 .

中国专利 :CN119722589A ,2025-03-28

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