一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510145796.8

申请日：

2025-02-10

公开(公告)号：

CN120161049A

公开(公告)日：

2025-06-17

发明(设计)人：

李大平卢志强袁军陈炳垚

申请人：

东莞高伟光学电子有限公司

申请人地址：

523427 广东省东莞市寮步镇寮步松柏路302号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

李汝荣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省东莞市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250210
2025-06-17	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测系统、PCB线路缺陷检测方法及可读存储介质 [P].

李威剑 ;

尹天骄 ;

郭晓觅 ;

杨浩 ;

童毅炜 ;

张逸颖 ;

樊天宇 .

中国专利 :CN120028248A ,2025-05-23

[2]

火灾检测方法、火灾检测系统、控制器和存储介质 [P].

王雨微 ;

刘定远 .

中国专利 :CN120299200A ,2025-07-11

[3]

智能检测方法、装置、控制器以及存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN115082753A ,2022-09-20

[4]

缺陷检测模型确认方法、装置及系统、缺陷检测方法和存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖安七 ;

张嵩 .

中国专利 :CN119229240A ,2024-12-31

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995B ,2024-06-25

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995A ,2024-03-29

[7]

一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

杜文莉 ;

堵威 ;

曹志兴 ;

钟伟民 ;

钱锋 .

中国专利 :CN119313967A ,2025-01-14

[8]

缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

葛亮 ;

王素利 .

中国专利 :CN119887676A ,2025-04-25

[9]

照明装置、缺陷检测系统及检测方法、装置和控制器 [P].

刘旸 ;

谢恒 ;

朱民 ;

孙利 .

中国专利 :CN120539155A ,2025-08-26

[10]

检测系统、检测方法和存储介质 [P].

覃英雁 .

中国专利 :CN111752263B ,2020-10-09

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