半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510361923.8
申请日
2025-03-25
公开(公告)号
CN120261266A
公开(公告)日
2025-07-04
发明(设计)人
霍彦辰 贾超超 焦圣杰
申请人
上海积塔半导体有限公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区云水路600号
IPC主分类号
H01L21/02
IPC分类号
H01L21/265 C23C14/48
代理机构
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
陈丽丽
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘震宇 .
中国专利 :CN114256347A ,2022-03-29
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
郑利平 .
中国专利 :CN119967835A ,2025-05-09
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN114256350A ,2022-03-29
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
司进 ;
殷立强 ;
崇二敏 ;
张海洋 .
中国专利 :CN117954384A ,2024-04-30
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
任烨 ;
吴旭升 .
中国专利 :CN117393566A ,2024-01-12
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN111725313B ,2024-06-25
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
魏琰 ;
宋化龙 ;
徐唯佳 .
中国专利 :CN108695258B ,2018-10-23
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN108305830A ,2018-07-20
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN107039521A ,2017-08-11
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘继全 ;
龚春蕾 .
中国专利 :CN107180784A ,2017-09-19