一种光电子器件表面缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510491312.5

申请日：

2025-04-18

公开(公告)号：

CN120275399A

公开(公告)日：

2025-07-08

发明(设计)人：

张富轩崔草香朱瑞平郭柏君吕勇张春扬李晓东

申请人：

国鲸合创（青岛）科技有限公司

申请人地址：

266000 山东省青岛市崂山区株洲路177号惠特工业园2号楼

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/94 G01N21/95 G01N21/01 G01N1/34

代理机构：

北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297

代理人：

陈磊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-08	公开	公开
2025-07-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250418

共 50 条

[1]

一种用于集成光电子器件表面缺陷检测装置 [P].

熊明存 .

中国专利 :CN212364111U ,2021-01-15

[2]

一种用于集成光电子器件的表面缺陷检测装置 [P].

庄礼杰 .

中国专利 :CN115372364A ,2022-11-22

[3]

一种用于集成光电子器件的表面缺陷检测装置 [P].

庄礼杰 .

中国专利 :CN115372364B ,2025-02-14

[4]

一种光电子器件表面缺陷视觉检测方法及系统 [P].

周屹 ;

包爱芳 ;

范余乐 ;

常胜 ;

赵露 ;

周思含 ;

许秀兰 .

中国专利 :CN118521591B ,2024-11-15

[5]

一种光电子器件表面缺陷视觉检测方法及系统 [P].

周屹 ;

包爱芳 ;

范余乐 ;

常胜 ;

赵露 ;

周思含 ;

许秀兰 .

中国专利 :CN118521591A ,2024-08-20

[6]

一种光电子器件生产检测装置 [P].

王文龙 ;

门超 ;

王迪 ;

李慧婷 .

中国专利 :CN220542107U ,2024-02-27

[7]

用于制造光电子器件的方法、光电子器件以及带有多个光电子器件的光电子器件装置 [P].

卢茨·赫佩尔 .

中国专利 :CN102388472B ,2012-03-21

[8]

光电子器件 [P].

K·阿恩德特 ;

N·法希特奇安 .

中国专利 :CN100587982C ,2005-04-06

[9]

光电子器件 [P].

R·科菲 ;

J-M·里维耶 .

中国专利 :CN114725222A ,2022-07-08

[10]

光电子器件 [P].

安德烈亚斯·赖特 ;

保拉·阿尔铁里-魏玛 .

中国专利 :CN112262482A ,2021-01-22

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