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晶片冷却模块及具备该模块的晶片测试设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311843829.3
申请日
:
2023-12-29
公开(公告)号
:
CN120233121A
公开(公告)日
:
2025-07-01
发明(设计)人
:
庄裕纬
吴信毅
周睿晢
申请人
:
致茂电子(苏州)有限公司
申请人地址
:
215011 江苏省苏州市苏州高新技术产业开发区珠江路855号(第七号厂房)
IPC主分类号
:
G01R1/02
IPC分类号
:
G01R31/28
H05K7/20
代理机构
:
北京市立康律师事务所 11805
代理人
:
许志影;梁挥
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-18
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/02申请日:20231229
2025-07-01
公开
公开
共 50 条
[1]
晶片测试模块
[P].
黄贵麟
论文数:
0
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0
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黄贵麟
;
吕智弘
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吕智弘
;
全清成
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全清成
.
中国专利
:CN101135706A
,2008-03-05
[2]
防结露的低温测试模块及具备该模块的芯片测试设备
[P].
庄裕纬
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机构:
致茂电子(苏州)有限公司
致茂电子(苏州)有限公司
庄裕纬
;
吴信毅
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0
机构:
致茂电子(苏州)有限公司
致茂电子(苏州)有限公司
吴信毅
;
周睿晢
论文数:
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机构:
致茂电子(苏州)有限公司
致茂电子(苏州)有限公司
周睿晢
.
中国专利
:CN120233122A
,2025-07-01
[3]
一种晶片测试封装模块
[P].
袁德威
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机构:
狮门微电子(温岭)股份有限公司
狮门微电子(温岭)股份有限公司
袁德威
;
骆进军
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机构:
狮门微电子(温岭)股份有限公司
狮门微电子(温岭)股份有限公司
骆进军
.
中国专利
:CN223065437U
,2025-07-04
[4]
晶片测试机及晶片测试方法
[P].
温进光
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温进光
.
中国专利
:CN101661077B
,2010-03-03
[5]
晶片测试机的晶片分类装置
[P].
严灿焜
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严灿焜
.
中国专利
:CN2463956Y
,2001-12-05
[6]
晶片测试设备
[P].
卢镜来
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卢镜来
.
中国专利
:CN2570976Y
,2003-09-03
[7]
晶片测试组件及其电性连接模块
[P].
李文聪
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李文聪
;
谢开杰
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谢开杰
;
邓群姿
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邓群姿
;
吕名凯
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吕名凯
;
陈彦辰
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陈彦辰
.
中国专利
:CN111880067A
,2020-11-03
[8]
电子元件温控模块及具备该模块的检测设备
[P].
简嘉宏
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简嘉宏
;
吴信毅
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吴信毅
.
中国专利
:CN107690259B
,2018-02-13
[9]
测试晶片的方法及测试结构
[P].
黄艳
论文数:
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0
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0
黄艳
.
中国专利
:CN101819940A
,2010-09-01
[10]
晶片卡紧装置和包括其的晶片测试设备
[P].
张仁奎
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张仁奎
;
金成龙
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金成龙
;
徐载亨
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徐载亨
;
苏县俊
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苏县俊
;
孙守镛
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孙守镛
.
中国专利
:CN110346609A
,2019-10-18
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