晶片冷却模块及具备该模块的晶片测试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311843829.3
申请日
2023-12-29
公开(公告)号
CN120233121A
公开(公告)日
2025-07-01
发明(设计)人
庄裕纬 吴信毅 周睿晢
申请人
致茂电子(苏州)有限公司
申请人地址
215011 江苏省苏州市苏州高新技术产业开发区珠江路855号(第七号厂房)
IPC主分类号
G01R1/02
IPC分类号
G01R31/28 H05K7/20
代理机构
北京市立康律师事务所 11805
代理人
许志影;梁挥
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
晶片测试模块 [P]. 
黄贵麟 ;
吕智弘 ;
全清成 .
中国专利 :CN101135706A ,2008-03-05
[2]
防结露的低温测试模块及具备该模块的芯片测试设备 [P]. 
庄裕纬 ;
吴信毅 ;
周睿晢 .
中国专利 :CN120233122A ,2025-07-01
[3]
一种晶片测试封装模块 [P]. 
袁德威 ;
骆进军 .
中国专利 :CN223065437U ,2025-07-04
[4]
晶片测试机及晶片测试方法 [P]. 
温进光 .
中国专利 :CN101661077B ,2010-03-03
[5]
晶片测试机的晶片分类装置 [P]. 
严灿焜 .
中国专利 :CN2463956Y ,2001-12-05
[6]
晶片测试设备 [P]. 
卢镜来 .
中国专利 :CN2570976Y ,2003-09-03
[7]
晶片测试组件及其电性连接模块 [P]. 
李文聪 ;
谢开杰 ;
邓群姿 ;
吕名凯 ;
陈彦辰 .
中国专利 :CN111880067A ,2020-11-03
[8]
电子元件温控模块及具备该模块的检测设备 [P]. 
简嘉宏 ;
吴信毅 .
中国专利 :CN107690259B ,2018-02-13
[9]
测试晶片的方法及测试结构 [P]. 
黄艳 .
中国专利 :CN101819940A ,2010-09-01
[10]
晶片卡紧装置和包括其的晶片测试设备 [P]. 
张仁奎 ;
金成龙 ;
徐载亨 ;
苏县俊 ;
孙守镛 .
中国专利 :CN110346609A ,2019-10-18