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基于深度学习的微型电机缺陷声纹检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510568189.2
申请日
:
2025-04-30
公开(公告)号
:
CN120299478A
公开(公告)日
:
2025-07-11
发明(设计)人
:
邱意想
陈铭枝
申请人
:
广东敏卓机电股份有限公司
申请人地址
:
528000 广东省佛山市顺德区北滘镇广教社区广教工业大道33号
IPC主分类号
:
G10L25/51
IPC分类号
:
G10L25/03
G10L25/27
G10L25/30
G10L17/02
G06N3/08
代理机构
:
广州市微锋知识产权代理有限公司 441103
代理人
:
程玉
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 佛山市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-11
公开
公开
2025-07-29
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G10L 25/51申请日:20250430
共 50 条
[1]
基于深度学习的法兰表面缺陷检测方法
[P].
王绍龙
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海铭沣科技股份有限公司
上海铭沣科技股份有限公司
王绍龙
;
强震乐
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机构:
上海铭沣科技股份有限公司
上海铭沣科技股份有限公司
强震乐
.
中国专利
:CN118982522A
,2024-11-19
[2]
基于深度学习的铸件外观缺陷检测方法
[P].
刘冬
论文数:
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0
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刘冬
;
丛明
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丛明
;
卢长奇
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0
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卢长奇
;
肖庆阳
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0
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肖庆阳
;
方建儒
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方建儒
;
葛春东
论文数:
0
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葛春东
.
中国专利
:CN113096098A
,2021-07-09
[3]
基于深度学习的铸件外观缺陷检测方法
[P].
刘冬
论文数:
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0
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
刘冬
;
丛明
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
丛明
;
卢长奇
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
卢长奇
;
肖庆阳
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0
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
肖庆阳
;
方建儒
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
方建儒
;
葛春东
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机构:
大连理工大学
大连理工大学
葛春东
.
中国专利
:CN113096098B
,2024-01-05
[4]
一种基于深度学习的电机检测方法
[P].
陈雷
论文数:
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机构:
巅峰表现(上海)科技有限公司
巅峰表现(上海)科技有限公司
陈雷
;
徐高峰
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0
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机构:
巅峰表现(上海)科技有限公司
巅峰表现(上海)科技有限公司
徐高峰
.
中国专利
:CN117591857A
,2024-02-23
[5]
基于深度学习模型的缺陷检测系统
[P].
刘飞
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刘飞
;
林宜龙
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林宜龙
;
胡忠
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胡忠
;
欧政义
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0
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欧政义
;
王能翔
论文数:
0
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0
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王能翔
.
中国专利
:CN114994046A
,2022-09-02
[6]
基于深度学习的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
[P].
刘飞
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0
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刘飞
;
林宜龙
论文数:
0
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林宜龙
;
胡忠
论文数:
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0
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胡忠
;
欧政义
论文数:
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0
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欧政义
;
王能翔
论文数:
0
引用数:
0
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0
王能翔
.
中国专利
:CN114998192A
,2022-09-02
[7]
一种基于深度学习的带钢表面缺陷检测方法
[P].
夏亚金
论文数:
0
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
夏亚金
;
吴汉民
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0
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
吴汉民
;
张嵩涛
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
张嵩涛
;
何雨欣
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
何雨欣
;
吴卫东
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
吴卫东
;
王维
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
王维
;
朱安辉
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
朱安辉
;
王蒙颜
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
王蒙颜
;
杨威
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
杨威
;
杨俊
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0
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机构:
海盐中达金属电子材料有限公司
海盐中达金属电子材料有限公司
杨俊
.
中国专利
:CN119048432A
,2024-11-29
[8]
基于深度学习的端子缺陷检测方法及系统
[P].
张金波
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张金波
;
姚毅
论文数:
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姚毅
.
中国专利
:CN111275700A
,2020-06-12
[9]
一种基于深度学习的工业自动表面缺陷检测方法
[P].
余建波
论文数:
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余建波
;
程训
论文数:
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程训
.
中国专利
:CN113240665A
,2021-08-10
[10]
一种基于深度学习的光刻缺陷检测方法及装置
[P].
谷洪刚
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
谷洪刚
;
梁昊阳
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
梁昊阳
;
刘世元
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
刘世元
;
刘力
论文数:
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
刘力
.
中国专利
:CN119579534B
,2025-07-29
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