半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510472452.8
申请日
2025-04-15
公开(公告)号
CN120358740A
公开(公告)日
2025-07-22
发明(设计)人
谈亚丽 李辉辉 孟皓
申请人
长鑫科技集团股份有限公司
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H10B12/00
IPC分类号
H10B10/00
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张焕云 ;
吴健 .
中国专利 :CN110085555A ,2019-08-02
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半导体结构及其形成方法 [P]. 
韩秋华 .
中国专利 :CN105826176B ,2016-08-03
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 ;
周永昌 .
中国专利 :CN116313810B ,2025-12-16
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN109427675A ,2019-03-05
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何其旸 .
中国专利 :CN104037084A ,2014-09-10
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
景友亮 .
中国专利 :CN113764279B ,2024-11-01
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
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中国专利 :CN106711245B ,2017-05-24
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李晓杰 .
中国专利 :CN115312466A ,2022-11-08
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半导体结构及其形成方法 [P]. 
张海洋 ;
韩秋华 ;
王梓 .
中国专利 :CN111435651A ,2020-07-21
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
景友亮 .
中国专利 :CN113764279A ,2021-12-07