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半导体结构及其形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310403143.6
申请日
:
2023-04-14
公开(公告)号
:
CN116313810B
公开(公告)日
:
2025-12-16
发明(设计)人
:
三重野文健
周永昌
申请人
:
飞锃半导体(上海)有限公司
申请人地址
:
201306 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
:
H10D30/01
IPC分类号
:
H10D30/60
H01L21/265
代理机构
:
北京市一法律师事务所 11654
代理人
:
刘荣娟
法律状态
:
授权
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-16
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法
[P].
何其旸
论文数:
0
引用数:
0
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0
何其旸
.
中国专利
:CN104037084A
,2014-09-10
[2]
半导体结构及其形成方法
[P].
许亮
论文数:
0
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许亮
.
中国专利
:CN114334819A
,2022-04-12
[3]
半导体结构及其形成方法
[P].
张庆超
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0
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
张庆超
;
周亦康
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0
机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
周亦康
.
中国专利
:CN117577527A
,2024-02-20
[4]
半导体结构及其形成方法
[P].
张庆超
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
张庆超
;
周亦康
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0
机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
周亦康
;
李骥
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
李骥
.
中国专利
:CN120358758A
,2025-07-22
[5]
半导体结构及其形成方法
[P].
樊永帅
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
樊永帅
;
付宇
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
付宇
;
柴杉杉
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
柴杉杉
;
薛晓凡
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
薛晓凡
.
中国专利
:CN120456575A
,2025-08-08
[6]
半导体结构及其形成方法
[P].
吴晗
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吴晗
.
中国专利
:CN113517289A
,2021-10-19
[7]
半导体结构及其形成方法
[P].
景友亮
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
景友亮
.
中国专利
:CN113764279B
,2024-11-01
[8]
半导体结构及其形成方法
[P].
景友亮
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景友亮
.
中国专利
:CN113764279A
,2021-12-07
[9]
半导体结构及其形成方法
[P].
邓浩
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邓浩
.
中国专利
:CN106856191A
,2017-06-16
[10]
半导体结构及其形成方法
[P].
董秋立
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
董秋立
;
周亦康
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
周亦康
;
吴旭升
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
吴旭升
.
中国专利
:CN118042922A
,2024-05-14
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