基于测试电路的设备测试方法及装置、电路、介质、产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510629773.4

申请日：

2025-05-16

公开(公告)号：

CN120151262B

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

庞迎春安玉林张晓龙汪向阳段海林

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400023 重庆市江北区建新东路260号

IPC主分类号：

H04L43/50

IPC分类号：

H04L43/08 H04L67/12 G01R31/00 G01R1/30

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

邵颖

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04L 43/50申请日:20250516
2025-08-05	授权	授权
2025-06-13	公开	公开

共 50 条

[1]

基于测试电路的设备测试方法及装置、电路、介质、产品 [P].

庞迎春 ;

安玉林 ;

张晓龙 ;

汪向阳 ;

段海林 .

中国专利 :CN120151262A ,2025-06-13

[2]

测试电路及基于测试电路的测试方法 [P].

张孝 ;

郑东瑾 ;

马卓 ;

窦强 ;

刘超 .

中国专利 :CN119224540A ,2024-12-31

[3]

测试电路、测试方法及测试设备 [P].

侯闯明 .

中国专利 :CN117761483A ,2024-03-26

[4]

测试电路、测试设备以及测试电路测试方法 [P].

陈跃俊 ;

巩志远 ;

刘兴 ;

袁鑫 .

中国专利 :CN113176488A ,2021-07-27

[5]

测试电路、测试设备以及测试电路测试方法 [P].

陈跃俊 .

中国专利 :CN113176487A ,2021-07-27

[6]

测试电路、测试设备以及测试电路测试方法 [P].

陈跃俊 ;

郝瑞庭 .

中国专利 :CN113176489A ,2021-07-27

[7]

测试电路及测试设备 [P].

陈登 ;

韩晓俊 .

中国专利 :CN207742566U ,2018-08-17

[8]

测试电路及测试设备 [P].

李少昆 .

中国专利 :CN214046000U ,2021-08-24

[9]

仿真信号测试电路、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

蔡天昊 ;

卢战勇 ;

陈京好 ;

张楠赓 .

中国专利 :CN115684878A ,2023-02-03

[10]

ATE测试电路切换控制方法、装置、测试设备及介质 [P].

刘钟源 ;

陈玲珑 ;

王林旺 ;

刘恒甫 .

中国专利 :CN117890760A ,2024-04-16

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