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线宽的测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210669579.5
申请日
:
2022-06-14
公开(公告)号
:
CN115047722B
公开(公告)日
:
2025-07-22
发明(设计)人
:
刘洋
于世瑞
申请人
:
上海华力集成电路制造有限公司
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区良腾路6号
IPC主分类号
:
G03F7/20
IPC分类号
:
G03F1/36
H01L21/66
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
刘昌荣
法律状态
:
授权
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-22
授权
授权
共 50 条
[1]
线宽的测量方法
[P].
刘洋
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刘洋
;
于世瑞
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于世瑞
.
中国专利
:CN115047722A
,2022-09-13
[2]
在线宽度测量方法
[P].
卢治功
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卢治功
;
贾志国
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贾志国
;
黄海霞
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黄海霞
;
职连杰
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职连杰
;
王书建
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王书建
;
马胜利
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马胜利
.
中国专利
:CN1136431C
,2001-08-08
[3]
一种线宽的测量方法
[P].
陈庆煌
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陈庆煌
;
柯思羽
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柯思羽
;
陈国强
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陈国强
;
刘志成
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刘志成
.
中国专利
:CN113053768A
,2021-06-29
[4]
对准标记线宽的测量方法及其测量系统
[P].
么铭怡
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
么铭怡
;
周光迎
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
周光迎
;
李亮
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北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
李亮
;
程修艳
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北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
程修艳
;
姜淼
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
姜淼
;
师江柳
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
师江柳
.
中国专利
:CN121115412A
,2025-12-12
[5]
有效线宽扫频测量系统及测量方法
[P].
赵勇
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赵勇
.
中国专利
:CN104808159A
,2015-07-29
[6]
一种光栅线宽比测量方法
[P].
谢惠民
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谢惠民
;
朱荣华
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朱荣华
;
唐敏锦
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唐敏锦
;
吴立夫
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吴立夫
.
中国专利
:CN103149017B
,2013-06-12
[7]
一种动态线宽测量系统及其测量方法
[P].
赵灿
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赵灿
;
李珍珺
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李珍珺
;
周雷
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周雷
.
中国专利
:CN113726424A
,2021-11-30
[8]
红外波段化学激光线宽的测量装置及其测量方法
[P].
卢兴吉
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卢兴吉
;
曹振松
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曹振松
;
朱文越
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朱文越
;
黄印博
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黄印博
;
刘强
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刘强
;
黄宏华
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黄宏华
;
王英俭
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王英俭
.
中国专利
:CN113049120B
,2021-06-29
[9]
一种窄线宽高速扫频光源瞬时线宽测量方法、测量系统
[P].
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机构:
王肇颖
;
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机构:
张杰
.
中国专利
:CN116593133B
,2025-08-12
[10]
线宽参数测量方法、装置及图像处理设备
[P].
张晓东
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张晓东
;
李锁印
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李锁印
;
韩志国
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韩志国
;
赵琳
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赵琳
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许晓青
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许晓青
;
吴爱华
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吴爱华
.
中国专利
:CN113935974A
,2022-01-14
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