一种功率器件的单粒子失效测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510570899.9

申请日：

2025-04-30

公开(公告)号：

CN120490746A

公开(公告)日：

2025-08-15

发明(设计)人：

舒磊胡立滨李博

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

北京知迪知识产权代理有限公司 11628

代理人：

刘亮

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20250430
2025-08-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P].

张弛 ;

陈朝晖 ;

刘玮 ;

丁晓兵 ;

余江 ;

徐鹏 ;

田得良 ;

郑茂然 ;

陆明 ;

张静伟 ;

陈旭 ;

刘千宽 ;

李捷 ;

甘卿忠 ;

黄智华 .

中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19

[2]

一种功率器件的失效测试电路和失效测试方法 [P].

刘国友 ;

黄建伟 ;

罗海辉 ;

覃荣震 ;

余伟 ;

朱利恒 .

中国专利 :CN104764988A ,2015-07-08

[3]

一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统 [P].

张峥 ;

郭刚 ;

陈启明 ;

孙浩瀚 ;

刘建成 ;

韩金华 ;

张艳文 ;

张付强 ;

殷倩 ;

隋丽 ;

赵树勇 ;

刘翠翠 ;

马旭 ;

李理 .

中国专利 :CN118914789A ,2024-11-08

[4]

功率器件在线测试系统和功率器件测试的控制方法 [P].

潘成兵 ;

王文博 ;

张若蒙 ;

赵丽霞 .

中国专利 :CN119805147A ,2025-04-11

[5]

一种测试功率器件的驱动系统、测试系统及测试方法 [P].

唐川 ;

赵健程 ;

曹泽旷 ;

吴佩雯 ;

白洋 ;

霍昕垚 ;

罗明 ;

余波 ;

陈绅城 .

中国专利 :CN119881571A ,2025-04-25

[6]

一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试系统 [P].

薛玉雄 ;

安恒 ;

杨生胜 ;

王德坤 ;

曹洲 ;

把得东 ;

石红 ;

汤道坦 ;

李存惠 .

中国专利 :CN102332310B ,2012-01-25

[7]

一种测试治具及功率器件测试系统 [P].

徐永胜 .

中国专利 :CN223637575U ,2025-12-05

[8]

功率器件雪崩耐量测试系统及测试方法 [P].

依志强 ;

李强 .

中国专利 :CN111381144A ,2020-07-07

[9]

功率器件雪崩耐量测试系统及测试方法 [P].

依志强 ;

李强 .

中国专利 :CN111381144B ,2024-08-23

[10]

一种功率器件的测试电路及测试系统 [P].

闵晨 .

中国专利 :CN119125817A ,2024-12-13

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