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積層セラミック電子部品の特性測定装置及び積層セラミック電子部品の製造方法[ja]

被引：0
申请号：
JP20240020245
申请日：
2024-02-14
公开(公告)号：
JP2025124294A
公开(公告)日：
2025-08-26
发明(设计)人：
OKUNO KAZUYA KATO HIDENOBU YOSHIDA KAZUHIRO
申请人：
MURATA MANUFACTURING CO
申请人地址：
IPC主分类号：
H01G13/00
IPC分类号：
G01R1/06 G01R1/067
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
共 33 条
[1]
積層セラミック電子部品[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022064121A ,2022-04-25
[2]
セラミック電子部品[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023001300A ,2023-01-04
[3]
セラミック電子部品[ja] [P]. 
ANDO NORIHISA ;
KOBAYASHI KAZUMI ;
MASUDA ATSUSHI ;
MORI MASAHIRO ;
MATSUNAGA KAYO ;
YAZAWA KOSUKE .
日本专利 :JP2024170651A ,2024-12-10
[4]
セラミック電子部品[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010087250A1 ,2012-08-02
[5]
セラミック電子部品およびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2006126352A1 ,2008-12-25
[6]
金属端子付きセラミック電子部品[ja] [P]. 
日本专利 :JP6255742B2 ,2018-01-10
[7]
金属端子付きセラミック電子部品[ja] [P]. 
日本专利 :JP6264716B2 ,2018-01-24
[8]
電子部品および電子部品の製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010046955A1 ,2012-03-15
[9]
電子部品の製造方法[ja] [P]. 
YAZAWA KOSUKE ;
YAMAMOTO MASATSUGU ;
ISOMAE YUTO .
日本专利 :JP2024042554A ,2024-03-28
[10]
電子部品及びその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013146979A1 ,2015-12-14
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