光检测器和电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202480007351.7
申请日
2024-01-30
公开(公告)号
CN120584565A
公开(公告)日
2025-09-02
发明(设计)人
中崎畅也 三成英树
申请人
索尼半导体解决方案公司
申请人地址
日本神奈川县
IPC主分类号
H10F39/18
IPC分类号
H04N25/76
代理机构
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
姚鹏;陈桂香
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[21]
光检测器 [P]. 
藤崎裕太郎 .
日本专利 :CN120883752A ,2025-10-31
[22]
光检测器 [P]. 
井上晓登 ;
杉浦裕树 ;
广濑裕 .
日本专利 :CN111937151B ,2024-07-26
[23]
受光元件和电子设备 [P]. 
蛯子芳树 ;
闺宏司 ;
佐野拓也 .
中国专利 :CN111900178A ,2020-11-06
[24]
受光元件和电子设备 [P]. 
蛯子芳树 ;
闺宏司 ;
佐野拓也 .
中国专利 :CN111900179B ,2020-11-06
[25]
光检测器和光检测器的制造方法 [P]. 
横井昭仁 .
中国专利 :CN101506998B ,2009-08-12
[26]
光检测元件和电子设备 [P]. 
中村良助 ;
服部祐树 .
日本专利 :CN119769202A ,2025-04-04
[27]
光检测装置和电子设备 [P]. 
德满千绘 .
日本专利 :CN120660461A ,2025-09-16
[28]
光检测装置和电子设备 [P]. 
内田哲弥 ;
平野智之 ;
铃木亮司 .
日本专利 :CN118299390A ,2024-07-05
[29]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山下浩史 ;
冨田知大 ;
田中晴美 .
日本专利 :CN118866923A ,2024-10-29
[30]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山岸肇 .
日本专利 :CN120202741A ,2025-06-24