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一种量程切换比色皿测量装置及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511046189.2
申请日
:
2025-07-29
公开(公告)号
:
CN120651772A
公开(公告)日
:
2025-09-16
发明(设计)人
:
马偲琬
王驰洲
杨剑
王希光
申请人
:
山东东润仪表科技股份有限公司
申请人地址
:
264003 山东省烟台市莱山经济开发区秀林路1号
IPC主分类号
:
G01N21/25
IPC分类号
:
G01N21/03
G01N21/15
F26B23/06
代理机构
:
烟台微远知行知识产权代理事务所(普通合伙) 37453
代理人
:
韩冰
法律状态
:
公开
国省代码
:
河北省 衡水市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-16
公开
公开
2025-10-03
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/25申请日:20250729
共 50 条
[1]
高量程射线快速测量装置及其测量方法
[P].
张志勇
论文数:
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张志勇
;
李晨
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李晨
;
李旭
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0
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李旭
.
中国专利
:CN107153213A
,2017-09-12
[2]
用于光学测量装置的比色皿优选流通比色皿及其操作方法
[P].
阿克塞尔·菲尔库特
论文数:
0
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阿克塞尔·菲尔库特
.
中国专利
:CN111189780A
,2020-05-22
[3]
吸收荧光通用比色皿装置及测量方法
[P].
陈嘉庆
论文数:
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
陈嘉庆
;
刘鸣
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
刘鸣
;
殷卫强
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
殷卫强
;
欧旭良
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0
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
欧旭良
;
潘晓波
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
潘晓波
;
石矿
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
石矿
;
姜建军
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
姜建军
.
中国专利
:CN119000549A
,2024-11-22
[4]
吸收荧光通用比色皿装置及测量方法
[P].
陈嘉庆
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
陈嘉庆
;
刘鸣
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
刘鸣
;
殷卫强
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
殷卫强
;
欧旭良
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
欧旭良
;
潘晓波
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
潘晓波
;
石矿
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
石矿
;
姜建军
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机构:
宜兴市晶科光学仪器有限公司
宜兴市晶科光学仪器有限公司
姜建军
.
中国专利
:CN119000549B
,2025-04-22
[5]
一种吸收荧光通用比色皿装置及测量方法
[P].
杨承虎
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杨承虎
;
刘洋之
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刘洋之
;
李铁军
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李铁军
;
郭远明
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0
郭远明
.
中国专利
:CN109406402A
,2019-03-01
[6]
一种异型腔体比色皿及光热测量装置
[P].
彭晓
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彭晓
;
蔡育威
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蔡育威
;
曾伊佳
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曾伊佳
;
彭政
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彭政
;
陈锐权
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陈锐权
;
刘浩
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刘浩
;
宋一纨
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宋一纨
;
路珍
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路珍
.
中国专利
:CN217385197U
,2022-09-06
[7]
测量装置、测量方法、以及测量程序
[P].
野口真伍
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野口真伍
;
木代雅巳
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0
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0
木代雅巳
.
中国专利
:CN107278265A
,2017-10-20
[8]
测量装置、测量程序及测量方法
[P].
笠健太郎
论文数:
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0
笠健太郎
.
中国专利
:CN115493498A
,2022-12-20
[9]
测量方法、测量装置和测量程序
[P].
志村重辅
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志村重辅
;
诸冈正浩
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诸冈正浩
.
中国专利
:CN104160287A
,2014-11-19
[10]
测量装置、测量程序及测量方法
[P].
笠健太郎
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机构:
铠侠股份有限公司
铠侠股份有限公司
笠健太郎
.
日本专利
:CN115493498B
,2025-09-30
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