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一种测试座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422389255.3
申请日
:
2024-09-29
公开(公告)号
:
CN223320449U
公开(公告)日
:
2025-09-09
发明(设计)人
:
周玲
宗健
何慕姣
尤伟
申请人
:
苏州崧亿半导体科技有限公司
申请人地址
:
215224 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区(太湖新城)体育路508号金鹰商业中心5幢191-1
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
代理机构
:
南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272
代理人
:
薛荣芳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-09
授权
授权
共 50 条
[1]
一种存储芯片测试座
[P].
洪育铠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市志忠微电子有限公司
深圳市志忠微电子有限公司
洪育铠
;
洪育铃
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市志忠微电子有限公司
深圳市志忠微电子有限公司
洪育铃
.
中国专利
:CN221746875U
,2024-09-20
[2]
一种芯片测试机测试座
[P].
李维繁星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李维繁星
.
中国专利
:CN218298295U
,2023-01-13
[3]
一种芯片测试座
[P].
吴志明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴志明
.
中国专利
:CN211478392U
,2020-09-11
[4]
一种芯片测试座
[P].
闵哲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
闵哲
.
中国专利
:CN213845224U
,2021-07-30
[5]
一种芯片测试座
[P].
王鹤立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王鹤立
.
中国专利
:CN208782077U
,2019-04-23
[6]
一种芯片测试座
[P].
吴炜奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳文治电子有限公司
深圳文治电子有限公司
吴炜奇
.
中国专利
:CN220455365U
,2024-02-06
[7]
一种芯片测试座
[P].
宁丽娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宁丽娟
.
中国专利
:CN215005521U
,2021-12-03
[8]
一种芯片测试座
[P].
冷祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
冷祥
;
刘志华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
刘志华
;
凡皓雪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
凡皓雪
.
中国专利
:CN220626594U
,2024-03-19
[9]
一种芯片量产测试用测试座
[P].
吴凌虹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海月芯半导体科技有限责任公司
上海月芯半导体科技有限责任公司
吴凌虹
.
中国专利
:CN220277654U
,2024-01-02
[10]
一种芯片测试用下压测试座
[P].
吴炜奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴炜奇
.
中国专利
:CN217931942U
,2022-11-29
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