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一种探针触点测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422711906.6
申请日：
2024-11-07
公开(公告)号：
CN223400959U
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
余新文 周天毫
申请人：
苏州微米光电子科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中区光福镇福利路15号
IPC主分类号：
G01R1/067
IPC分类号：
G01R1/04 G01R1/02 G01R31/00 G01R35/00 G01R35/02
代理机构：
上海利迅知识产权代理有限公司 31462
代理人：
刘馥宁
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 授权 授权
共 50 条
[1]
一种探针测试装置 [P]. 
周公庆 ;
马列 ;
刘宗刚 ;
马志强 ;
袁桃生 ;
谈仕祥 ;
侯锟 ;
苟小康 .
中国专利 :CN216670078U ,2022-06-03
[2]
一种集成电路探针测试装置 [P]. 
黄宏隆 .
中国专利 :CN223526470U ,2025-11-07
[3]
一种真空变温探针测试装置 [P]. 
王福辉 .
中国专利 :CN223727601U ,2025-12-26
[4]
一种探针生产检测用测试装置 [P]. 
张云 .
中国专利 :CN217820511U ,2022-11-15
[5]
触点保持力测试装置 [P]. 
高文峰 .
中国专利 :CN222299014U ,2025-01-03
[6]
一种探针测试装置 [P]. 
孙丰 .
中国专利 :CN205067627U ,2016-03-02
[7]
探针测试组件及测试装置 [P]. 
程海兵 ;
许思萌 ;
张浩东 ;
梁晓君 ;
方学涛 ;
沈聪聪 ;
雷凌 .
中国专利 :CN223022203U ,2025-06-24
[8]
一种用于半导体晶片的探针测试装置 [P]. 
张岩 ;
许宾宾 .
中国专利 :CN221726170U ,2024-09-17
[9]
探针测试装置 [P]. 
陈祁阳 .
中国专利 :CN210426967U ,2020-04-28
[10]
一种触点测试装置 [P]. 
潘增建 ;
孙家广 ;
马晓辉 ;
白春亮 .
中国专利 :CN210199143U ,2020-03-27
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