一种集成电路探针测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422670523.9

申请日：

2024-11-04

公开(公告)号：

CN223526470U

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

黄宏隆

申请人：

日月新半导体（昆山）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市昆山市千灯镇黄浦江南路497号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/067

代理机构：

徐州知创智行专利代理事务所(普通合伙) 32796

代理人：

王会彬

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试装置 [P].

张新波 .

中国专利 :CN222212820U ,2024-12-20

[2]

集成电路测试装置 [P].

蔡晓东 .

中国专利 :CN221124786U ,2024-06-11

[3]

一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P].

洪学成 .

中国专利 :CN215910595U ,2022-02-25

[4]

集成电路测试装置及其测试探针 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN206696394U ,2017-12-01

[5]

一种集成电路测试装置 [P].

周梁 .

中国专利 :CN215067096U ,2021-12-07

[6]

一种集成电路测试装置 [P].

江耀明 ;

梁文华 ;

廖国洪 ;

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN221726084U ,2024-09-17

[7]

一种集成电路测试装置 [P].

栾海林 ;

吴松青 .

中国专利 :CN210465604U ,2020-05-05

[8]

一种集成电路测试装置 [P].

李燕 .

中国专利 :CN220933133U ,2024-05-10

[9]

新型集成电路测试装置 [P].

林峰 ;

姜龙 .

中国专利 :CN221199857U ,2024-06-21

[10]

集成电路strip测试装置 [P].

沈飞飞 ;

张志伟 ;

刘小飞 ;

苏康宏 ;

韩学森 ;

陈乃溪 .

中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11

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